Карта сайта JTAG.ТЕСТ
JTAG.ТЕСТ специализируется на применении технологий граничного сканирования и методик тестопригодного проектирования на различных уровнях электронной техники
- О НАС — наша команда и сведения о компании
- УСЛУГИ — решения, предлагаемые компанией
- МОНОГРАФИЯ — монография д-ра Ами Городецкого «Введение в технологии JTAG и DFT»
|
|
Скачать БЕСПЛАТНО JTAG-систему onTAP на 30 дней!
Отзывы о нас
Новости JTAG-Test
 Август 2017.
Новые возможности в JTAG Manager Ver.4.X.
Интерактивное окно "Вид тестируемой ПП".
 22.04.2013 г.
 07.05.2012 г.
Новости JTAG-Test
 08.08.2013 г.
Выложена для скачивания обновленная версия (4965) бесплатного графического поисковика Test Fault Locator.
 07.08.2013 г.
Выложена для скачивания обновленная версия (4942) бесплатного графического поисковика Test Fault Locator.
 22.04.2013 г.
К сайту подключена новая страница с описанием нашего нового программного продукта Test Fault Locator.
 22.04.2013 г.
 08.07.2012 г.
К сайту подключена новая страница с описанием нашего нового программно-аппаратного продукта JTAG Overseer
 08.05.2012 г.
 07.05.2012 г.
Пресс-релизы
 Разработан, произведен и полностью доступен новый аппаратный модуль
JEMIO-LVDS — эффективное дополнение к модулю JEMIO. В полной конфигурации
модуль JEMIO-LVDS обеспечивает 36 LVDS-входных каналов и 36 LVDS-выходных каналов,
плюс 2 TTL I/O канала и может быть соответственно конфигурирован по желанию пользователя. Подробности см.
здесь.

Разработан, произведен и полностью доступен новейший модуль для кластерного JTAG-тестирования цепей miniPCI.
В полной конфигурации модуль JEM_MiniPCI-T III
обеспечивает тестирование 83-х PCI и резервных каналов, 33-х линий земли и питания,
а также нескольких конфигурируемых петлевых соединений. Подробности см. здесь.

Разработан, произведен и полностью доступен новейший модуль для тестирования памяти типа UDIMM (DDR3 Unbuffered DIMM). Примеры модулей памяти DDR3 — MT18JSF25672AZ — 2GB, MT18JSF51272AZ — 4GB.
Подробности — см. здесь.
|
|