JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT
В JTAG мы знаем все!
«... Мы говорим JTAG, подразумеваем — ТЕСТ,
мы говорим ТЕСТ, подразумеваем — JTAG!»

Тест Граничного Сканирования onTAP
стал еще лучше!

Уважаемые пользователи onTAP!
Мы хотели бы поблагодарить вас за еще один успешный год сотрудничества.
Мы получили множество прекрасных отзывов от наших заказчиков
и хотели бы воспользоваться моментом, чтобы сказать «Спасибо» и поделиться с вами некоторыми из усовершенствований,
которые мы сделали в onTAP, основываясь на ваших пожеланиях.
Мы также хотели бы пожелать вам безопасных и счастливых праздников!
onTAP logo Что такое onTAP?
Декабрь 17, 2013 Выпуск 3, Номер 1
Система Граничного Сканирования onTAP является наиболее экономически эффективным из доступных решением для JTAG тестирования и программирования.
Мы хотим занять минуту вашего времени, чтобы предложить вашему вниманию новые захватывающие функции и усовершенствования, которые мы добавили в onTAP, чтобы улучшить возможности тестов граничного сканирования.
Пожалуйста, найдите время ознакомиться с этими обновлениями и их влиянием и разобраться, как правильно пользоваться программным обеспечением.
Тестирование DDR4
Тестовая Структура Исключение ИЛИ (XOR) в компонентах Micron DDR4.
Это было очень позитивное решение для улучшения тестирования компонентов памяти DDR с помощью технологии граничного сканирования. Тестовые структуры XOR в компонентах памяти Micron DDR4 делают возможными использовать простые тестовые последовательности для DDR устройств. Возможность XOR тестирования в Micron соответствует JEDEC стандарту 1716.40.
СОВЕТ: КАК РЕАЛИЗОВАТЬ
Если вы хотите воспользоваться возможностью XOR тестирования для DDR4, пожалуйста, убедитесь, что тестовый вывод (TEN) на DDR4 доступен для управления. Вы можете получить модели для XOR тестирования, обратившись в службу поддержки Support@flynn.com.
КАБЕЛЬ
Пониженного Напряжения —
TAP CONNECT JTAG
Доступен сейчас!
Кабель пониженного напряжения onTAP TAP CONNECT JTAG имеет все те же функции, что и стандартный кабель onTAP: возможность двухканального программирования ПЗУ, тестирование JTAG, включающее тестирование кластеров и не-JTAG компонентов, таких как ОЗУ, также может быть использован для программирования ПЛМ, ПЛИС, СПЗУ и сигналов Ввода-Вывода общего назначения, но с внутренним напряженим в пределах 0.95 В – 3.6 В.
IEEE 1149.6 AC JTAG
Более автоматизированная подготовка тестов для AC JTAG
Усовершенствованная страница генератора тестов onTAP' TestGen предоставляет доступ к инструментам для разработки тестов AC JTAG, которые требуются для самых сложных аппликаций, включая внесение предварительных процедур для компонентов фирмы Broadcom. Включены также модели для дифференциальных пар, соединительных конденсаторов, а также для петлевых соединений в разъемах переменного тока.
Модернизированное Тестирование Кластеров и программирование
Новые Команды = Улучшенное Тестирование
Новые команды в языке тестирования кластеров DTS и моделях, такие как GetProjectFolderName(), позволяют улучшить тестирование и программирование не-JTAG компонентов. В Моделях программирования ПЗУ можно использовать Контрольную Панель ПЗУ (onTAP Flash Control panel), где файлы данных и значения переменных программирования могут быть изменены без рекомпиляции основного файла SVF.
Примечание: Все модели элементов ОЗУ и кластеров всегда доступны и не требуют дополнительной оплаты!
Дискретизация Сигналов
при запуске Аппликации
Визуализация Активности Сигналов в Режиме Запуска Аппликации
ProScan теперь имеет экран форм сигналов, показывающий активность сигналов как в режиме запуска аппликаций на проверяемой плате, так и в режиме граничного сканирования. При отладке это помогает определить источники конфлитующих сигналов, например, такие как свободный сигнал тактовой частоты.
ПокажиМне!
ПокажиМне! Упрощает процесс отладки ОЗУ и кластерных тестов,
даже когда плата недоступна.
ПокажиМне! облегчает отладку кластерных тестов, даже если сама тестируемая плата недоступна. Все выводы компонентов, контактные группы и программные переменные для каждого шага, выполняемого во время теста кластера, показываются в виде таблицы.
Дополнение
onTAP DLL
Теперь Доступен и C #!
Файлы onTAP DLL доступны в VB, C++, а теперь и в C#. Файлы onTAP DLL взаимодействуют и обмениваются данными во время выполнения непосредственно с тестовыми оболочками, такими как LabVIEW™ или JTAG Manager™, через набор инструкций DLL. Эта возможность позволяет тест-оператору интерактивно вмешиваться и изменять тестовые последовательности на базе DLL.
Скачайте Демонстрационный пакет, чтобы увидеть, как это работает:
        http://www.flynn.com/files/downloads/onTAP_DLL_Csharp.zip
        http://www.flynn.com/files/downloads/ontap_dll_demo.zip
Модели DTS
Экономьте время за счет размещения нужных вам моделей
во встроенные библиотеки Моделей DTS
Модели DTS для компонентов не-JTAG, таких как ОЗУ DDR2-4 и ПЗУ, теперь включены в обновления onTAP и находятся в папке DTS Models. Изменения и новые модели станут доступны после размещения новых обновлений onTAP или по запросу.
Тестовые отчеты
Получите ясность и прозрачность тестовых отчетов onTAP
Обновленный диалог управления Отчетами теперь позволяет просматривать отчеты об испытаниях для каждого теста граничного сканирования в проекте и выборочно суммировать результаты испытаний.
Новые Опции
Лицензирования
Портативные лицензии добавляют большую гибкость
Портативные лицензии теперь могут быть установлены внутри onTAP JTAG кабеля или внутри ключа USB. Кроме того, панель управления Лицензией была добавлена в меню onTAP для облегчения обработки поддержки обновлений для JTAG кабелей, ключей и лицензий, привязанных к компьютеру по электронной почте.
Повышайте производительность с помощью onTAP!
Свяжитесь с нами, чтобы узнать больше о том, как onTAP может помочь вам увеличить вашу производительность и о некоторых новых функциях, которые мы собираемся добавить к onTAP.
Все усовершенствования и обновления onTAP доступны для скачивания.
Скачивайте onTAP прямо сейчас и начинайте работать!
onTAP logo1
sales@flynn.com
Flynn Systems Corporation
74 Northeastern Boulevard
STE 16A
Nashua, NH 03062
(603) 598-4444

English

NEWS-рассылка


Скачать БЕСПЛАТНО
JTAG-систему onTAP
на 30 дней!

Отзывы о нас

Новости JTAG-Test

Август 2017.
Новые возможности в JTAG Manager Ver.4.X.
Интерактивное окно "Вид тестируемой ПП".
26.04.2017 г.
Ценовая революция в JTAG Manager.
22.04.2013 г.
Мы рады информировать наших друзей,
что исправленная редакция монографии д-ра Ами Городецкого
«ВВЕДЕНИЕ В ТЕХНОЛОГИИ JTAG И DFT. ТЕСТИРОВАНИЕ В ТЕХНОЛОГИЯХ ГРАНИЧНОГО СКАНИРОВАНИЯ И ТЕСТОПРИГОДНОЕ ПРОЕКТИРОВАНИЕ»
вышла в издательстве PALMARIUM ACADEMIC PUBLISHING, GERMANY. Книгу можно приобрести здесь.
Или через наш сайт, с небольшой скидкой.
Пишите на info@jtag-test.ru
07.05.2012 г.
Мы с удовольствием сообщаем нашим читателям и подписчикам, что в немецком академическом издательстве Palmarium в Саарбрюккене, Германия, вышла в свет монография д-ра Ами Городецкого «Введение в технологии JTAG и DFT. Тестирование в технологиях граничного сканирования и тестопригодное проектирование», 2012, Palmarium Academic Publishing, Germany, ISBN 978-3-8473-9324-5.

Новости JTAG-Test

26.04.2017 г.
Ценовая революция в JTAG Manager.
08.08.2013 г.
Выложена для скачивания обновленная версия (4965) бесплатного графического поисковика Test Fault Locator.
07.08.2013 г.
Выложена для скачивания обновленная версия (4942) бесплатного графического поисковика Test Fault Locator.
22.04.2013 г.
К сайту подключена новая страница с описанием нашего нового программного продукта Test Fault Locator.
22.04.2013 г.
Мы рады информировать наших друзей,
что исправленная редакция монографии д-ра Ами Городецкого
«ВВЕДЕНИЕ В ТЕХНОЛОГИИ JTAG И DFT. ТЕСТИРОВАНИЕ В ТЕХНОЛОГИЯХ ГРАНИЧНОГО СКАНИРОВАНИЯ И ТЕСТОПРИГОДНОЕ ПРОЕКТИРОВАНИЕ»
вышла в издательстве PALMARIUM ACADEMIC PUBLISHING, GERMANY. Книгу можно приобрести здесь.
Или через наш сайт, с небольшой скидкой.
Пишите на info@jtag-test.ru
08.07.2012 г.
К сайту подключена новая страница с описанием нашего нового программно-аппаратного продукта JTAG Overseer
07.05.2012 г.
Мы с удовольствием сообщаем нашим читателям и подписчикам, что в немецком академическом издательстве Palmarium в Саарбрюккене, Германия, вышла в свет монография д-ра Ами Городецкого «Введение в технологии JTAG и DFT. Тестирование в технологиях граничного сканирования и тестопригодное проектирование», 2012, Palmarium Academic Publishing, Germany, ISBN 978-3-8473-9324-5.

Пресс-релизы

Разработан, произведен и полностью доступен новый аппаратный модуль JEMIO-LVDS — эффективное дополнение к модулю JEMIO. В полной конфигурации модуль JEMIO-LVDS обеспечивает 36 LVDS-входных каналов и 36 LVDS-выходных каналов, плюс 2 TTL I/O канала и может быть соответственно конфигурирован по желанию пользователя. Подробности см. здесь.
Разработан, произведен и полностью доступен новейший модуль для кластерного JTAG-тестирования цепей miniPCI. В полной конфигурации модуль JEM_MiniPCI-T III обеспечивает тестирование 83-х PCI и резервных каналов, 33-х линий земли и питания, а также нескольких конфигурируемых петлевых соединений. Подробности см. здесь.
Разработан, произведен и полностью доступен новейший модуль для тестирования памяти типа UDIMM (DDR3 Unbuffered DIMM). Примеры модулей памяти DDR3 — MT18JSF25672AZ — 2GB, MT18JSF51272AZ — 4GB. Подробности — см. здесь.


 

Карта сайта | О нас | Услуги | Софт & хард | JTAG-Библиотека | Партнеры и заказчики | Поддержка | onTAP | Контакты | Монография
Написать вебмастеру
© JTAG.ТЕСТ, 2009.
Все права защищены.