JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT
В JTAG мы знаем все!
«... Мы говорим JTAG, подразумеваем — ТЕСТ,
мы говорим ТЕСТ, подразумеваем — JTAG!»

Факторы, определяющие время прожига флэш-памяти

JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT

Предварительная оценка минимально возможного времени прожига флэш-памяти посредством JTAG-интерфейса выполняется по следующей простой формуле:
Tпрог = (Nяч * Nцикл * Nwe * Addr) / TCK, где

  • Tпрог — оценка времени прожига флэш-памяти в секундах;
  • Nяч — число последовательных JTAG-ячеек, активизируемых при прожиге флэш-памяти;
  • Nцикл — число циклов записи информации в данную флэш-память;
  • Nwe — число JTAG-векторов, необходимых для обеспечения правильной формы сигнала /WE в каждом цикле записи;
  • Addr — количество адресов (ячеек памяти), используемых в данном файле прожига;
  • TCK — максимально возможная частота данной JTAG-цепочки, Гц.

Подробнее см. здесь.


English

NEWS-рассылка

АБОНЕМЕНТ JTAG-УНИВЕРСИТЕТА


Скачать БЕСПЛАТНО
JTAG-систему onTAP
на 30 дней!

Отзывы о нас

Новости JTAG-Университета

Новости JTAG.ТЕСТ

Пресс-релизы

Разработан, произведен и полностью доступен новейший модуль для тестирования памяти типа UDIMM (DDR3 Unbuffered DIMM). Примеры модулей памяти DDR3 — MT18JSF25672AZ — 2GB, MT18JSF51272AZ — 4GB. Подробности — см. на www.jtag-test.ru/SoftAndHard/SODIMM.php.
Началась подготовка к 10-му юбилейному симпозиуму EWDTS, который пройдет в Харькове.
EWDTS


 

Карта сайта | О нас | Услуги | Софт & хард | JTAG-Университет | Партнеры и заказчики | Поддержка | JTAG-форум | Контакты | Монография
Написать вебмастеру
© JTAG.ТЕСТ, 2009.
Все права защищены.