JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT
В JTAG мы знаем все!
«... Мы говорим JTAG, подразумеваем — ТЕСТ,
мы говорим ТЕСТ, подразумеваем — JTAG!»

Поддержка, которую мы обеспечиваем нашим заказчикам

JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT

Фирма JTAG.TECT снискала широкую известность высоким качеством и оперативностью обслуживания своих заказчиков.

Все наши специалисты в области тестопригодного проектирования, структурного тестирования, технологий граничного сканирования (JTAG), внутрисхемного программирования и конфигурирования микросхем ПЛМ и FPGA, прожига микросхем флэш-памяти и тестирования ICT обладают многолетним опытом в перечисленных областях и помогут Вам быстро и эффективно справиться с любыми возникающими у Вас проблемами. В большинстве случаев Вы можете получить решение, консультацию и поддержку в течение нескольких часов.

НЕ ОСТАВАЙТЕСЬ НАЕДИНЕ С ВАШИМИ ПРОБЛЕМАМИ!
ПОКАЖИТЕ ИХ НАМ, И МЫ ПОМОЖЕМ ВАМ НАЙТИ РЕШЕНИЕ!

Мы обеспечиваем максимально полную и оперативную техническую и консультационную поддержку наших заказчиков с активным абонементом. Активным является абонемент экспертной и технической поддержки, оплаченный на период в один год, срок которого не истек. Наши заказчики получают экспертные оценки и исчерпывающие консультации на русском языке посредством электронной почты или интернетной системы Skype по любым аспектам следующих тем:

  • программное и аппаратное обеспечение большинства известных в мире JTAG-платформ:
  • разработка и прогон тестовых программ на указанных JTAG-платформах;
  • программное и аппаратное обеспечение внутрисхемных тестеров ICT;
  • общие вопросы применения технологий граничного сканирования (JTAG), включая стандарты IEEE 1149.1 (цифровой), IEEE 1149.4 (аналоговый), IEEE 1149.6 (дифференциальные цепи), IEEE 1532 (ISC, внутрисхемное конфигурирование ПЛМ и FPGA);
  • детальный анализ и тестопригодное проектирование (DFT) схем заказчика.

Абонемент экспертной и технической поддержки может быть продлен или возобновлен в любое время по желанию заказчика в соответствии с предложением цены.


English

NEWS-рассылка

АБОНЕМЕНТ JTAG-УНИВЕРСИТЕТА


Скачать БЕСПЛАТНО
JTAG-систему onTAP
на 30 дней!

Отзывы о нас

Новости JTAG-Университета

Новости JTAG.ТЕСТ

Пресс-релизы

Разработан, произведен и полностью доступен новейший модуль для тестирования памяти типа UDIMM (DDR3 Unbuffered DIMM). Примеры модулей памяти DDR3 — MT18JSF25672AZ — 2GB, MT18JSF51272AZ — 4GB. Подробности — см. на www.jtag-test.ru/SoftAndHard/SODIMM.php.
Началась подготовка к 10-му юбилейному симпозиуму EWDTS, который пройдет в Харькове.
EWDTS


 

Карта сайта | О нас | Услуги | Софт & хард | JTAG-Университет | Партнеры и заказчики | Поддержка | JTAG-форум | Контакты | Монография
Написать вебмастеру
© JTAG.ТЕСТ, 2009.
Все права защищены.