JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT
В JTAG мы знаем все!
«... Мы говорим JTAG, подразумеваем — ТЕСТ,
мы говорим ТЕСТ, подразумеваем — JTAG!»

Поддержка, которую мы обеспечиваем нашим заказчикам

JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT

Фирма JTAG.TECT снискала широкую известность высоким качеством и оперативностью обслуживания своих заказчиков.

Все наши специалисты в области тестопригодного проектирования, структурного тестирования, технологий граничного сканирования (JTAG), внутрисхемного программирования и конфигурирования микросхем ПЛМ и FPGA, прожига микросхем флэш-памяти и тестирования ICT обладают многолетним опытом в перечисленных областях и помогут Вам быстро и эффективно справиться с любыми возникающими у Вас проблемами. В большинстве случаев Вы можете получить решение, консультацию и поддержку в течение нескольких часов.

НЕ ОСТАВАЙТЕСЬ НАЕДИНЕ С ВАШИМИ ПРОБЛЕМАМИ!
ПОКАЖИТЕ ИХ НАМ, И МЫ ПОМОЖЕМ ВАМ НАЙТИ РЕШЕНИЕ!

Мы обеспечиваем максимально полную и оперативную техническую и консультационную поддержку наших заказчиков с активным абонементом. Активным является абонемент экспертной и технической поддержки, оплаченный на период в один год, срок которого не истек. Наши заказчики получают экспертные оценки и исчерпывающие консультации на русском языке посредством электронной почты или интернетной системы Skype по любым аспектам следующих тем:

  • программное и аппаратное обеспечение большинства известных в мире JTAG-платформ:
  • разработка и прогон тестовых программ на указанных JTAG-платформах;
  • программное и аппаратное обеспечение внутрисхемных тестеров ICT;
  • общие вопросы применения технологий граничного сканирования (JTAG), включая стандарты IEEE 1149.1 (цифровой), IEEE 1149.4 (аналоговый), IEEE 1149.6 (дифференциальные цепи), IEEE 1532 (ISC, внутрисхемное конфигурирование ПЛМ и FPGA);
  • детальный анализ и тестопригодное проектирование (DFT) схем заказчика.

Абонемент экспертной и технической поддержки может быть продлен или возобновлен в любое время по желанию заказчика в соответствии с предложением цены.

Что касается востребованности таких услуг на Западе (и у нас в Израиле, в смысле уровня электроники мы ничем от Запада не отличаемся), то дело обстоит вот как. Во-первых, тестопригодное проектирование — это совершенно общепринятая вещь, выполняется, как правило, специалистами по аутсорсингу (в Израиле это делаем мы для десятков фирм — см. на наших веб-сайтах www.Start-Test.com и www.jtag-test.ru), реже — самими разработчиками схем, но прошедшими спецподготовку. Иначе говоря, никакая схема не идет в разводку без оценки уровня тестового покрытия (по списку имен цепей и имен контактов) и нахождения некоего согласованного с заказчиком оптимального уровня.

Печатная плата после сборки поступает на одну или несколько станций структурного тестирования. Это всегда либо JTAG на той или иной платформе (совершенно неважно, на какой), либо ICT, либо Flying Probe, либо AOI, либо те или иные их сочетания, в зависимости от желания заказчика достичь того или иного уровня тестового покрытия дефектов. Рентген (AXI) ни в коем случае не заменяет ни один из этих этапов, однако часто применяется выборочно для уточнения диагностики, полученной на них. Функциональное тестирование выполняется только после прохождения структурного в том или ином объеме, иначе это экономически нецелесообразно.

Свои тестеры ICT или Flying Probe имеют только состоятельные фирмы-разработчики схем, остальные заказывают у контрактников, абсолютно все контрактники должны быть такой техникой оснащены, конечно. Стенды прогона готовых программ тестирования JTAG (runners) имеются у большинства фирм-разработчиков, а фирмы контрактного производства имеют по нескольку таких стендов, причем на разных платформах, чтобы расширить спектр пожеланий заказчиков. Например, Flextronix Israel имеет более десятка таких стендов. Часть из них принадлежит ей, часть — самим заказчикам. Мы выполняем разработки тестов для большинства из них.

Разработка программ тестирования изредка выполняется фирмами-разработчиками электроники или контрактными производителями. Изредка потому, что средства разработки программ тестирования дороги, а держать у себя на постоянной зарплате хорошо подготовленного специалиста, умеющего это делать, неоправданно (он дорог и не ежедневно загружен работой) и опасно (легко сбежит к конкурентам). Поэтому в основном фирмы-разработчики предпочитают обращаться в услугам сторонних специалистов, занимающихся только этим (вроде нашей компании) и делающих такие программы быстро и профессионально. В Израиле таких специалистов можно разделить на 2 группы: фирмы-представители компаний-производителей (resellers), работающие только на своих JTAG-платформаx (Corelis, Asset, onTAP, JTAG Tech) и пытающиеся убедить заказчиков, что лучше их платформы нет и не может быть, и мы, работающие на всех (!) JTAG-платформаx и хорошо знающие достоинства и недостатки каждой из них.


English

NEWS-рассылка


Скачать БЕСПЛАТНО
JTAG-систему onTAP
на 30 дней!

Отзывы о нас

Новости JTAG-Test

26.04.2017 г.
Ценовая революция в JTAG Manager.
22.04.2013 г.
Мы рады информировать наших друзей,
что исправленная редакция монографии д-ра Ами Городецкого
«ВВЕДЕНИЕ В ТЕХНОЛОГИИ JTAG И DFT. ТЕСТИРОВАНИЕ В ТЕХНОЛОГИЯХ ГРАНИЧНОГО СКАНИРОВАНИЯ И ТЕСТОПРИГОДНОЕ ПРОЕКТИРОВАНИЕ»
вышла в издательстве PALMARIUM ACADEMIC PUBLISHING, GERMANY. Книгу можно приобрести здесь.
Или через наш сайт, с небольшой скидкой.
Пишите на info@jtag-test.ru
07.05.2012 г.
Мы с удовольствием сообщаем нашим читателям и подписчикам, что в немецком академическом издательстве Palmarium в Саарбрюккене, Германия, вышла в свет монография д-ра Ами Городецкого «Введение в технологии JTAG и DFT. Тестирование в технологиях граничного сканирования и тестопригодное проектирование», 2012, Palmarium Academic Publishing, Germany, ISBN 978-3-8473-9324-5.

Новости JTAG-Test

26.04.2017 г.
Ценовая революция в JTAG Manager.
08.08.2013 г.
Выложена для скачивания обновленная версия (4965) бесплатного графического поисковика Test Fault Locator.
07.08.2013 г.
Выложена для скачивания обновленная версия (4942) бесплатного графического поисковика Test Fault Locator.
22.04.2013 г.
К сайту подключена новая страница с описанием нашего нового программного продукта Test Fault Locator.
22.04.2013 г.
Мы рады информировать наших друзей,
что исправленная редакция монографии д-ра Ами Городецкого
«ВВЕДЕНИЕ В ТЕХНОЛОГИИ JTAG И DFT. ТЕСТИРОВАНИЕ В ТЕХНОЛОГИЯХ ГРАНИЧНОГО СКАНИРОВАНИЯ И ТЕСТОПРИГОДНОЕ ПРОЕКТИРОВАНИЕ»
вышла в издательстве PALMARIUM ACADEMIC PUBLISHING, GERMANY. Книгу можно приобрести здесь.
Или через наш сайт, с небольшой скидкой.
Пишите на info@jtag-test.ru
08.07.2012 г.
К сайту подключена новая страница с описанием нашего нового программно-аппаратного продукта JTAG Overseer
07.05.2012 г.
Мы с удовольствием сообщаем нашим читателям и подписчикам, что в немецком академическом издательстве Palmarium в Саарбрюккене, Германия, вышла в свет монография д-ра Ами Городецкого «Введение в технологии JTAG и DFT. Тестирование в технологиях граничного сканирования и тестопригодное проектирование», 2012, Palmarium Academic Publishing, Germany, ISBN 978-3-8473-9324-5.

Пресс-релизы

Разработан, произведен и полностью доступен новый аппаратный модуль JEMIO-LVDS — эффективное дополнение к модулю JEMIO. В полной конфигурации модуль JEMIO-LVDS обеспечивает 36 LVDS-входных каналов и 36 LVDS-выходных каналов, плюс 2 TTL I/O канала и может быть соответственно конфигурирован по желанию пользователя. Подробности см. здесь.
Разработан, произведен и полностью доступен новейший модуль для кластерного JTAG-тестирования цепей miniPCI. В полной конфигурации модуль JEM_MiniPCI-T III обеспечивает тестирование 83-х PCI и резервных каналов, 33-х линий земли и питания, а также нескольких конфигурируемых петлевых соединений. Подробности см. здесь.
Разработан, произведен и полностью доступен новейший модуль для тестирования памяти типа UDIMM (DDR3 Unbuffered DIMM). Примеры модулей памяти DDR3 — MT18JSF25672AZ — 2GB, MT18JSF51272AZ — 4GB. Подробности — см. здесь.


 

Карта сайта | О нас | Услуги | Софт & хард | JTAG-Библиотека | Партнеры и заказчики | Поддержка | onTAP | Контакты | Монография
Написать вебмастеру
© JTAG.ТЕСТ, 2009.
Все права защищены.