 |
«... Мы говорим JTAG, подразумеваем — ТЕСТ,
мы говорим ТЕСТ, подразумеваем — JTAG!»
УСЛУГИ
Разработка тестов JTAG
Разработка программ внутрисхемного тестирования ICT и игольчатых адаптеров, поставка тестеров ICT Z18xx «под ключ»
Анализ тестопригодности (DFT)
Официальный дилер системы onTAP
Тестирование файлов BSDL
Официальный дилер израильской компании Nortec-Ami
Разработка тестов JTAG
Разработка программ внутрисхемного тестирования ICT и игольчатых адаптеров, поставка тестеров ICT Z18xx «под ключ»
Анализ тестопригодности (DFT)
Официальный дилер системы onTAP
Тестирование файлов BSDL
Официальный дилер израильской компании Nortec-Ami
СОФТ & ХАРД
Модули JEM_DIMM/SODIMM
Операционная оболочка JTAG Manager
Модули наружного JTAG-тестирования: Мастер-кластер JEMIO
Разветвитель JTAG-шины TAP-Di
Программный пакет графического отображения диагностики JTAG-тестов OFS Viewer
Мост тестопригодности Bridge-For-Testability BFT
Графическое отображение диагностики тестирования: программный пакет ICTV)
Модули JEM_DIMM/SODIMM
Операционная оболочка JTAG Manager
Модули наружного JTAG-тестирования: Мастер-кластер JEMIO
Разветвитель JTAG-шины TAP-Di
Программный пакет графического отображения диагностики JTAG-тестов OFS Viewer
Мост тестопригодности Bridge-For-Testability BFT
Графическое отображение диагностики тестирования: программный пакет ICTV)
JTAG-УНИВЕРСИТЕТ
АБОНЕМЕНТ JTAG-УНИВЕРСИТЕТА
Основы JTAG и DFT
Журнал «Компоненты и Технологии»
Система разработки тестов onTAP
Отзывы преподавателей и доцентов университетов по индивидуальной стажировке
АБОНЕМЕНТ JTAG-УНИВЕРСИТЕТА
Основы JTAG и DFT
Журнал «Компоненты и Технологии»
Система разработки тестов onTAP
Отзывы преподавателей и доцентов университетов по индивидуальной стажировке
Что получают наши заказчики
Файлы BSDL, которые мы рекомендуем
Факторы, определяющие время прожига флэш-памяти
Файлы BSDL, которые мы рекомендуем
Факторы, определяющие время прожига флэш-памяти
СОФТ & ХАРДМы разрабатываем, производим и поставляем
|
|
English
NEWS-рассылка
АБОНЕМЕНТ JTAG-УНИВЕРСИТЕТА
Скачать БЕСПЛАТНО
JTAG-систему onTAP
на 30 дней!
JTAG-систему onTAP
на 30 дней!
Отзывы о нас
Новости JTAG-Университета
07.05.2012 г.Мы рады сообщить нашим читателям и подписчикам, что на днях в академическом
издательстве Palmarium в Саарбрюккене, Германия, выходит в свет монография
д-ра Ами Городецкого «Введение в технологии JTAG и DFT»
17.12.2011 г.Выложена статья «Введение в стандарт IEEE 1500 для тестопригодного проектирования СнК (Часть 1)».
05.11.2011 г.Выложена статья из журнала «КиТ» № 11. 2011 «Тестирование ICT: векторное или безвекторное?»
25.08.2011 г.Выложена статья из журнала «КиТ» № 9. 2011 «Еще раз о внутрисхемном тестировании ICT (окончание)»
28.07.2011 г.Выложена статья из журнала «КиТ» № 8. 2011 «Снова о внутрисхемном тестировании (продолжение)»
Новости JTAG.ТЕСТ
Пресс-релизы
Разработан, произведен и полностью доступен новейший модуль для тестирования памяти типа UDIMM (DDR3 Unbuffered DIMM). Примеры модулей памяти DDR3 — MT18JSF25672AZ — 2GB, MT18JSF51272AZ — 4GB. Подробности — см. на www.jtag-test.ru/SoftAndHard/SODIMM.php.
Началась подготовка к 10-му юбилейному симпозиуму EWDTS, который пройдет в Харькове.
| Карта сайта | О нас | Услуги | Софт & хард | JTAG-Университет | Партнеры и заказчики | Поддержка | JTAG-форум | Контакты | Монография | |
| Написать вебмастеру |
© JTAG.ТЕСТ, 2009. Все права защищены. |