Разветвитель JTAG-шины TAP-Di^TM

Разветвитель JTAG-шины TAP-Di^TM предназначен для произвольного конфигурирования внутрисхемных JTAG-цепочек по выбору тест-инженера, до начала выполнения JTAG-теста или во время его выполнения. Разветвитель TAP-Di^TM поставляется в следующих конфигурациях (и их всевозможных подконфигурациях):

Разветвитель TAP-Di^TM позволяет конфигурировать как количество вторичных JTAG-цепочек, так и порядок их последовательного включения. Если, например, имеются 4 вторичные JTAG-цепочки ТАР1 (3,3 B), ТАР2 (2,5 B), ТАР3 (1,8 B), ТАР4 (1,5 B), то по выбору тест-инженера первичный ТАР может переключаться на каждую из них по отдельности, или же на их произвольные последовательности в произвольном порядке (рис. 1):

Разветвитель TAP-Di^TM автоматически распознает наличие включенных вторичных JTAG-каналов ТАР, давая возможность подключить их к первичному каналу ТАР в любом желаемом наборе и последовательности, и в любом сочетании напряжений питания ТАР (3,3 B, 2,5 B, 1,8 B, 1,5 B) каждого из вторичных каналов, подавая на них затем ту или иную последовательность JTAG-тестов, а также для внутрисхемного конфигурирования ПЛМ или FPGA, прожига флэш-памяти, выполнения любых JTAG-кластерных тестов.

Разветвитель TAP-Di^TM обеспечивает также групповой (gang) режим JTAG-тестирования нескольких одинаковых плат или JTAG-цепочек, одновременно подключенных к нескольким вторичным ТАР-портам. Такая структура тестового стенда значительно повышает производительность тестирования в массовом (средне- и крупносерийном) производстве плат. По специальному алгоритму свертки CRC (LFSR) вычисляется сигнатура принимаемого выходного сигнала TDO каждой из JTAG-цепочек, а затем эта сигнатура автоматически сравнивается с заранее полученной сигнатурой заведомо исправной JTAG-цепочки или платы, и результат в форме «прошел–не прошел» выдается тест-оператору. Ко вторичным портам TAP-Di^TM можно подключить любую ПП или узел с JTAG-поддержкой (рис. 2,3), а также, посредством модуля JEMIO^TM (см. рис. 4 и здесь), — любую ПП вообще!

Рис. 1. Структура разветвителя JTAG-шины TAP-Di^TM

Рис.2. Разветвленный и групповой режимы JTAG-тестирования с TAP-DiTM	Рис.3. Групповой режим прожига флэшей с TAP-DiTM для JTAG-ПП
Рис.4. Групповой режим прожига флэшей с TAP-DiTM и JEMIOTM для не-JTAG-ПП

Специальный режим работы разветвителя TAP-Di^TM (Gang-F) обеспечивает групповой режим прожига нескольких одинаковых микросхем флэш-памяти, одновременно подключенных к нескольким вторичным ТАР-портам. Такая структура тестового стенда существенно повышает производительность прожига микросхем флэш-памяти при массовом (средне- и крупносерийном) производстве плат. Если, к примеру, время прожига одной ИС флэш-памяти равно N сек, то при подключении К одинаковых плат с ИС флэш-памяти к TAP-Di^TM в режиме Gang-F пользователь может сократить время прожига такой партии плат с N*К сек до N/К сек!

Кроме возможности организации JTAG-тестирования и одиночного или группового режимов прожига микросхем флэш-памяти для ПП, поддерживающих JTAG-режим (рис. 2,3), разветвитель TAP-Di^TM позволяет выполнять все эти операции также и для ПП, вовсе не поддерживающих JTAG-режим (рис. 4) при помощи модуля JEMIO^TM. В дополнение к возможностям прожига обычных ИС флэш-памяти, разветвитель TAP-Di^TM дает возможность тестировать и внутрисхемно прожигать ИС с последовательным протоколом, такие как SMBus, SPI, I2C и MicroWire (рис. 1).

Замечательной особенностью разветвителя TAP-Di^TM является использование его 4-х входов, предназначенных для внутрисхемных измерений и контроля постоянных напряжений (рис. 1). Такие аналоговые измерения в протоколе JTAG являются уникальными и могут выполняться в любой из известных JTAG-систем.

Разветвитель TAP-Di^TM снабжен 32-мя внешними JTAG-управляемыми выходами (рис. 1), предназначенными для простой организации любых внутрисхемных условий тестирования и поддержки любых JTAG-ограничений внутрисхемных ИС.

Разъем прожига предназначен для конфигурирования TAP-Di^TM и представляет собой стандартный 10-контактный разъем с порядком и назначением контактов как у JTAG-разъемов фирмы Аltera.

Входной разъем представляет собой стандартный 20-контактный разъем, который, в дополнение к обычным пяти контактам ТАР-порта, снабжен также тремя дополнительными контактами CONFIG, /WE и RDY/BSY. Контакт CONFIG входного разъема предназначен для переключения схемы разветвителя TAP-Di^TM в один из двух основных режимов: конфигурирования или тестирования, а контакты /WE и RDY/BSY - для поддержки ускоренного прожига компонент флэш-памяти.

Выходные разъемы представляют собой стандартные 20-контактные разъемы, которые, в дополнение к обычным пяти контактам ТАР-порта, снабжены также тремя дополнительными контактами PRESENCE, /WE и RDY/BSY. Контакт PRESENCE выходного разъема предназначен для автоматического обнаружения факта подключения вторичного ТАР-порта к соответствующему разъему.

Разветвитель JTAG-шины TAP-Di^TM полностью совместим со следующими системами JTAG-тестирования:

Flynn Systems' onTAP Series 4000
Corelis' ScanExpress
JTAG Technologies' ProVision
Asset' ScanWorks
Goepel' CASCON
XJTAG' XJRunner

Разветвитель TAP-DiTM также полностью совместим с программой JTAG Live — совершенно БЕСПЛАТНОЙ программой отладки плат, с помощью которой вы можете быстро и просто управлять отдельными внутрисхемными контактами и цепями, считывать их логические состояния и выполнять несложные кластерные JTAG-тесты, все это — абсолютно бесплатно!

Основные преимущества применения разветвителя JTAG-шины TAP-Di^TM следующие: