JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT
В JTAG мы знаем все!
«... Мы говорим JTAG, подразумеваем — ТЕСТ,
мы говорим ТЕСТ, подразумеваем — JTAG!»

Модули наружного JTAG-тестирования: Мастер-кластер JEMIOTM

Модули наружного JTAG-тестирования (Мастер-кластер JEMIOTM) предназначены для организации тестового доступа к цепям, подключенным к наружным разъемам тестируемых плат, если эти цепи недостижимы никакими другими тестовыми средствами. Обеспечение такого тестового доступа позволяет существенно увеличить уровень тестового покрытия плат и зачастую исключает или заметно уменьшает необходимость в использовании других средств тестирования.

Семейство Мастер-кластер JEMIOTM содержит ряд модулей, позволяющих управлять цепями наружных разъемов и фиксировать их состояния. Каждая из тестируемых цепей управляется индивидуально и может быть предварительно конфигурирована как вход, выход, вход-выход или состояние с высоким импедансом. JTAG-цепочка модулей JEMIOTM легко комбинируется с цепочками тестируемых плат и включается в тесты инфраструктуры и тесты межэлементных связей. Модули JEMIOTM могут использоваться независимо или встраиваться в тестовые установки плат и узлов.

Использование Мастер-кластеров JEMIOTM автоматизировано во всех приведенных ниже системах JTAG-тестирования. Их применение позволяет выполнять гибкие и недорогие JTAG-тесты для краевых и внутрисхемных разъемов плат, контрольных точек и любых цепей с наружным доступом. Встроенные в модули JEMIOTM ПЛМ обеспечивают двунаправленные каналы тестирования по всем подключенным к ним цепям, нетестопригодным иными средствами.

     

Модуль JEMIO.1-74

  

Применение JEMIOTM для JTAG-тестируемых ПП

  

Применение JEMIOTM для ПП без JTAG-поддержки

Основные характеристики семейства модулей Мастер-кластер JEMIOTM:

 
  • Выполнение JTAG-тестов межэлементных связей и кластерных тестов плат и узлов;
  • Поддержка широкого диапазона одно- или двунаправленных контактов ввода-вывода следующими моделями:
Тип модуля Наименование модуля при заказе
    74 pin JEMIO.1
  148 pin JEMIO.1
  34 pin JEMIO.1-LVDS
  yyy pin JEMIO.6
  xx pin JEMIO.1-UD
  JEMIO.1-74
JEMIO.1-148
JEMIO.1-LVDS-34
JEMIO.6-yyy
JEMIO.1-UDxx

Примечание: Модули типа JEMIO.1-UDxx выполняются по требованию заказчика, где хх — количество требуемых заказчиком входо-выходов.

 
  • Тестирование контактов с постоянными напряжениями и контактов, подключенных к земле
  • Каждый контакт любого модуля JEMIOTM может выполнять функции входа, выхода, входо-выхода или находиться в состоянии с высоким импедансом
  • Горячее включение: модули Мастер-кластер JEMIOTM можно подключать и отключать без переключения питания тестируемой платы или узла
  • Модули содержат встроенный JTAG-порт, работающий в протоколах IEEE 1149.1 (JEMIO.1) и IEEE 1149.6 (JEMIO.6) в зависимости от модели
  • Поставка модулей Мастер-кластер JEMIOTM включает в себя все необходимое программное обеспечение и документацию для их применения в любой из указанных ниже систем JTAG-тестирования
  • Полная совместимость со следующими системами JTAG-тестирования:
  •   Flynn Systems' onTAP Series 4000
  •     
  •   Corelis' ScanExpress
  •       
  •   JTAG Technologies' ProVision
  •     
  •   Asset' ScanWorks
  •     
  •   Goepel' CASCON
  •     
  •   XJTAG' XJRunner
  •     
 
  • Полная совместимость с программой JTAG Live — совершенно БЕСПЛАТНОЙ программой отладки плат, с помощью которой вы можете быстро и просто управлять отдельными внутрисхемными контактами и цепями, считывать их логические состояния и выполнять несложные кластерные JTAG-тесты, все это — абсолютно бесплатно!
    

English

NEWS-рассылка

АБОНЕМЕНТ JTAG-УНИВЕРСИТЕТА


Скачать БЕСПЛАТНО
JTAG-систему onTAP
на 30 дней!

Отзывы о нас

Новости JTAG-Университета

Новости JTAG.ТЕСТ

Пресс-релизы

Разработан, произведен и полностью доступен новейший модуль для тестирования памяти типа UDIMM (DDR3 Unbuffered DIMM). Примеры модулей памяти DDR3 — MT18JSF25672AZ — 2GB, MT18JSF51272AZ — 4GB. Подробности — см. на www.jtag-test.ru/SoftAndHard/SODIMM.php.
Началась подготовка к 10-му юбилейному симпозиуму EWDTS, который пройдет в Харькове.
EWDTS


 

Карта сайта | О нас | Услуги | Софт & хард | JTAG-Университет | Партнеры и заказчики | Поддержка | JTAG-форум | Контакты | Монография
Написать вебмастеру
© JTAG.ТЕСТ, 2009.
Все права защищены.