JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT
В JTAG мы знаем все!
«... Мы говорим JTAG, подразумеваем — ТЕСТ,
мы говорим ТЕСТ, подразумеваем — JTAG!»

Мы рады информировать наших друзей,
что исправленная редакция монографии д-ра Ами Городецкого
«ВВЕДЕНИЕ В ТЕХНОЛОГИИ JTAG И DFT.
ТЕСТИРОВАНИЕ В ТЕХНОЛОГИЯХ ГРАНИЧНОГО СКАНИРОВАНИЯ
И ТЕСТОПРИГОДНОЕ ПРОЕКТИРОВАНИЕ»
вышла в издательстве PALMARIUM ACADEMIC PUBLISHING, GERMANY.
Книгу можно приобрести здесь.
Или — через наш сайт, с небольшой скидкой.
Пишите на info@jtag-test.ru

Мы с удовольствием сообщаем нашим читателям и подписчикам,
что в немецком академическом издательстве Palmarium в Саарбрюккене
вышла в свет монография д-ра Ами Городецкого
«Введение в технологии JTAG и DFT.
Тестирование в технологиях граничного сканирования и тестопригодное проектирование», 2012, Palmarium Academic Publishing, Germany, ISBN 978-3-8473-9324-5

Монография

Содержание

Предисловие
Раздел 1. Введение
Раздел 2. Тестирование до эпохи граничного сканирования и архитектура цифрового стандарта JTAG
Раздел 3. Описание структур граничного сканирования (файлы BSDL)
Раздел 4. Основной формат ввода тест-программ и тесты граничного сканирования
Раздел 5. Tесты граничного сканирования (JTAG)
Раздел 6. Тестопригодное проектирование схем для граничного сканирования
Раздел 7. Программы ГС-тестирования современных печатных плат в примерах
Раздел 8. Аналоговый стандарт граничного сканирования IEEE 1149.4
Раздел 9. Стандарт граничного сканирования IEEE 1149.6 для дифференциальных цепей
Раздел 10. Внутрисхемное конфигурирование микросхем ПЛМ и FPGA в стандарте IEEE 1532
Раздел 11. Новый двухконтактный JTAG-порт: стандарт IEEE 1149.7
Раздел 12. Стандарт JTAG-тестирования пассивных компонентов IEEE P1149.8.1
Раздел 13. Стандарт тестопригодного проектирования микросхем IEEE P1687
Раздел 14. Система поддержки граничного сканирования ScanWorks (Asset)
Раздел 15. Система поддержки граничного сканирования ScanExpress (Corelis)
Раздел 16. Системa поддержки граничного сканирования ProVision (JTAG Technologies)
Раздел 17. Системa поддержки граничного сканирования onTAP (Flynn Systems)
Раздел 18. Системa поддержки граничного сканирования XJTAG (XJTAG)
******** Промежуточное заключение
Раздел 19. Программно-аппаратные средства JTAG-поддержки фирмы JTAG.TEST - StarTest
Раздел 20. Дистанционное JTAG-тестирование
Раздел 21. Введение во внутрисхемное тестирование
Раздел 22. Тестопригодное проектирование и сравнительные характеристики внутрисхемного тестирования ICT
Раздел 23. Основы технологии JTAG и тестопригодного проектирования в вопросах и ответах (ЧаВо)

Приложение. Учебный JT-проект: «Разработка и отладка программ JTAG-тестирования печатных плат в системе onTAP фирмы Flynn Systems» для начинающих пользователей


English

NEWS-рассылка


Скачать БЕСПЛАТНО
JTAG-систему onTAP
на 30 дней!

Отзывы о нас

Новости JTAG-Test

Август 2017.
Новые возможности в JTAG Manager Ver.4.X.
Интерактивное окно "Вид тестируемой ПП".
26.04.2017 г.
Ценовая революция в JTAG Manager.
22.04.2013 г.
Мы рады информировать наших друзей,
что исправленная редакция монографии д-ра Ами Городецкого
«ВВЕДЕНИЕ В ТЕХНОЛОГИИ JTAG И DFT. ТЕСТИРОВАНИЕ В ТЕХНОЛОГИЯХ ГРАНИЧНОГО СКАНИРОВАНИЯ И ТЕСТОПРИГОДНОЕ ПРОЕКТИРОВАНИЕ»
вышла в издательстве PALMARIUM ACADEMIC PUBLISHING, GERMANY. Книгу можно приобрести здесь.
Или через наш сайт, с небольшой скидкой.
Пишите на info@jtag-test.ru
07.05.2012 г.
Мы с удовольствием сообщаем нашим читателям и подписчикам, что в немецком академическом издательстве Palmarium в Саарбрюккене, Германия, вышла в свет монография д-ра Ами Городецкого «Введение в технологии JTAG и DFT. Тестирование в технологиях граничного сканирования и тестопригодное проектирование», 2012, Palmarium Academic Publishing, Germany, ISBN 978-3-8473-9324-5.

Новости JTAG-Test

26.04.2017 г.
Ценовая революция в JTAG Manager.
08.08.2013 г.
Выложена для скачивания обновленная версия (4965) бесплатного графического поисковика Test Fault Locator.
07.08.2013 г.
Выложена для скачивания обновленная версия (4942) бесплатного графического поисковика Test Fault Locator.
22.04.2013 г.
К сайту подключена новая страница с описанием нашего нового программного продукта Test Fault Locator.
22.04.2013 г.
Мы рады информировать наших друзей,
что исправленная редакция монографии д-ра Ами Городецкого
«ВВЕДЕНИЕ В ТЕХНОЛОГИИ JTAG И DFT. ТЕСТИРОВАНИЕ В ТЕХНОЛОГИЯХ ГРАНИЧНОГО СКАНИРОВАНИЯ И ТЕСТОПРИГОДНОЕ ПРОЕКТИРОВАНИЕ»
вышла в издательстве PALMARIUM ACADEMIC PUBLISHING, GERMANY. Книгу можно приобрести здесь.
Или через наш сайт, с небольшой скидкой.
Пишите на info@jtag-test.ru
08.07.2012 г.
К сайту подключена новая страница с описанием нашего нового программно-аппаратного продукта JTAG Overseer
07.05.2012 г.
Мы с удовольствием сообщаем нашим читателям и подписчикам, что в немецком академическом издательстве Palmarium в Саарбрюккене, Германия, вышла в свет монография д-ра Ами Городецкого «Введение в технологии JTAG и DFT. Тестирование в технологиях граничного сканирования и тестопригодное проектирование», 2012, Palmarium Academic Publishing, Germany, ISBN 978-3-8473-9324-5.

Пресс-релизы

Разработан, произведен и полностью доступен новый аппаратный модуль JEMIO-LVDS — эффективное дополнение к модулю JEMIO. В полной конфигурации модуль JEMIO-LVDS обеспечивает 36 LVDS-входных каналов и 36 LVDS-выходных каналов, плюс 2 TTL I/O канала и может быть соответственно конфигурирован по желанию пользователя. Подробности см. здесь.
Разработан, произведен и полностью доступен новейший модуль для кластерного JTAG-тестирования цепей miniPCI. В полной конфигурации модуль JEM_MiniPCI-T III обеспечивает тестирование 83-х PCI и резервных каналов, 33-х линий земли и питания, а также нескольких конфигурируемых петлевых соединений. Подробности см. здесь.
Разработан, произведен и полностью доступен новейший модуль для тестирования памяти типа UDIMM (DDR3 Unbuffered DIMM). Примеры модулей памяти DDR3 — MT18JSF25672AZ — 2GB, MT18JSF51272AZ — 4GB. Подробности — см. здесь.


 

Карта сайта | О нас | Услуги | Софт & хард | JTAG-Библиотека | Партнеры и заказчики | Поддержка | onTAP | Контакты | Монография
Написать вебмастеру
© JTAG.ТЕСТ, 2009.
Все права защищены.