![]() |
Отзывы преподавателей и доцентов университетов по индивидуальной стажировке![]() В ноябре 2011 мы проходили стажировку по теме «Технологии JTAG и тестопригодного проектирования (DFT) электронных схем» в фирме JTAG.TECT (Израиль) у ведущего мирового эксперта в этой области, д-ра Ами Городецкого, обладающего огромным объемом теоретических и практических знаний в этой области. Обучающий недельный курс содержал 14 разделов, в которых рассматривались как основы данного направления диагностики современных электронных устройств, так и перспективные направления, описываемые новой группой стандартов JTAG. Материал излагался в виде анимированного слайд-курса, на чистейшем живом русском языке, с необходимой и дозированной интерпретаций ключевых понятий по-английски, и сопровождался нетривиальными примерами. Уровень изложения материалов курса доступен для специалистов уровня инженера, имеет хорошую интерактивную форму и охватывает практически всю проблематику данного направления. Курс обучения мы завершили лабораторной работой по краткому изучению программного пакета onTAP фирмы Flynn Systems, используемого для JTAG-тестирования плат электроники с возможностью локализации дефектов до элементного уровня. Приобретенные нами при стажировке теоретические знания, а также анимированный слайд-курс лекций д-ра А. Городецкого станут основой при подготовке нашим университетом специалистов для ведущих предприятий электронной промышленности и помогут нам организовать востребованную предприятиями нашего региона практическую работу по внедрению технологий тестопригодного проектирования и структурного тестирования в разрабатываемые у нас сложные изделия электронной техники.
|
EnglishNEWS-рассылкаАБОНЕМЕНТ JTAG-УНИВЕРСИТЕТАСкачать БЕСПЛАТНО
JTAG-систему onTAP на 30 дней! Отзывы о насНовости JTAG-Университета 07.05.2012 г.Мы рады сообщить нашим читателям и подписчикам, что на днях в академическом
издательстве Palmarium в Саарбрюккене, Германия, выходит в свет монография
д-ра Ами Городецкого «Введение в технологии JTAG и DFT»
17.12.2011 г.Выложена статья «Введение в стандарт IEEE 1500 для тестопригодного проектирования СнК (Часть 1)». 05.11.2011 г.Выложена статья из журнала «КиТ» № 11. 2011 «Тестирование ICT: векторное или безвекторное?» 25.08.2011 г.Выложена статья из журнала «КиТ» № 9. 2011 «Еще раз о внутрисхемном тестировании ICT (окончание)» 28.07.2011 г.Выложена статья из журнала «КиТ» № 8. 2011 «Снова о внутрисхемном тестировании (продолжение)» Новости JTAG.ТЕСТПресс-релизы
Разработан, произведен и полностью доступен новейший модуль для тестирования памяти типа UDIMM (DDR3 Unbuffered DIMM). Примеры модулей памяти DDR3 — MT18JSF25672AZ — 2GB, MT18JSF51272AZ — 4GB. Подробности — см. на www.jtag-test.ru/SoftAndHard/SODIMM.php.
Началась подготовка к 10-му юбилейному симпозиуму EWDTS, который пройдет в Харькове.![]() |

| Карта сайта | О нас | Услуги | Софт & хард | JTAG-Университет | Партнеры и заказчики | Поддержка | JTAG-форум | Контакты | Монография | |
| Написать вебмастеру |
© JTAG.ТЕСТ, 2009. Все права защищены. |