JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT
В JTAG мы знаем все!
«... Мы говорим JTAG, подразумеваем — ТЕСТ,
мы говорим ТЕСТ, подразумеваем — JTAG!»

Отзывы преподавателей и доцентов университетов по индивидуальной стажировке

JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT

В ноябре 2011 мы проходили стажировку по теме «Технологии JTAG и тестопригодного проектирования (DFT) электронных схем» в фирме JTAG.TECT (Израиль) у ведущего мирового эксперта в этой области, д-ра Ами Городецкого, обладающего огромным объемом теоретических и практических знаний в этой области.

Обучающий недельный курс содержал 14 разделов, в которых рассматривались как основы данного направления диагностики современных электронных устройств, так и перспективные направления, описываемые новой группой стандартов JTAG. Материал излагался в виде анимированного слайд-курса, на чистейшем живом русском языке, с необходимой и дозированной интерпретаций ключевых понятий по-английски, и сопровождался нетривиальными примерами. Уровень изложения материалов курса доступен для специалистов уровня инженера, имеет хорошую интерактивную форму и охватывает практически всю проблематику данного направления. Курс обучения мы завершили лабораторной работой по краткому изучению программного пакета onTAP фирмы Flynn Systems, используемого для JTAG-тестирования плат электроники с возможностью локализации дефектов до элементного уровня.

Приобретенные нами при стажировке теоретические знания, а также анимированный слайд-курс лекций д-ра А. Городецкого станут основой при подготовке нашим университетом специалистов для ведущих предприятий электронной промышленности и помогут нам организовать востребованную предприятиями нашего региона практическую работу по внедрению технологий тестопригодного проектирования и структурного тестирования в разрабатываемые у нас сложные изделия электронной техники.

Сотрудники Научно-Исследовательского Центра
Самарского Государственного аэрокосмического университета (СГАУ),
           доцент каф. электротехники, к.т.н. Курицкий А.А.
           инженер каф. электротехники Борисов О.Ю.

Авторизоваться:

Логин (e-mail):
Пароль:
Регистрация / Забыли пароль?

English

NEWS-рассылка

АБОНЕМЕНТ JTAG-УНИВЕРСИТЕТА


Скачать БЕСПЛАТНО
JTAG-систему onTAP
на 30 дней!

Отзывы о нас

Новости JTAG-Университета

Новости JTAG.ТЕСТ

Пресс-релизы

Разработан, произведен и полностью доступен новейший модуль для тестирования памяти типа UDIMM (DDR3 Unbuffered DIMM). Примеры модулей памяти DDR3 — MT18JSF25672AZ — 2GB, MT18JSF51272AZ — 4GB. Подробности — см. на www.jtag-test.ru/SoftAndHard/SODIMM.php.
Началась подготовка к 10-му юбилейному симпозиуму EWDTS, который пройдет в Харькове.
EWDTS


 

Карта сайта | О нас | Услуги | Софт & хард | JTAG-Университет | Партнеры и заказчики | Поддержка | JTAG-форум | Контакты | Монография
Написать вебмастеру
© JTAG.ТЕСТ, 2009.
Все права защищены.