ОСНОВЫ JTAG и DFT
    · Введение в технологию граничного сканирования
    · Регистры и команды граничного сканирования
    · Язык описания структур граничного сканирования
    · Основной формат ввода тест программ и тесты граничного сканирования
    · Тестопригодное проектирование схем для граничного сканирования
    · Системы поддержки граничного сканирования ScanWorks и ScanExpress
    · Системы поддержки граничного сканирования ProVision и onTAP
    · Введение в аналоговый стандарт граничного сканирования IEEE 1149.4
    · Программы ГС-тестирования современных печатных плат в примерах
    · Стандарт граничного сканирования IEEE 1149.6 для дифференциальных цепей
    · Аппаратное обеспечение систем поддержки ГС ScanWorks и ScanExpress
    · Аппаратное обеспечение системы onTAP фирмы Flynn Systems
    · Аппаратное обеспечение системы ProVision фирмы JTAG Technologies
    · Программное обеспечение прогона тест-программ граничного сканирования
    · Введение во внутрисхемное тестирование
    · Тестопригодное проектирование и сравнительные характеристики внутрисхемного тестирования ICT
    · Основы технологии JTAG и тестопригодного проектирования в вопросах и ответах
    · Расширенное обсуждение JTAG-стандарта IEEE 1149.6
    · Система разработки и прогона JTAG-тестов фирмы ХJTAG
    · Внутрисхемное конфигурирование микросхем ПЛМ и FPGA в стандарте IEEE 1532
    · Новый двухконтактный JTAG-порт: стандарт IEEE 1149.7
    · Cтандарт тестопригодного проектирования микросхем IEEE Р1687
    · Новый стандарт JTAG-тестирования пассивных компонент IEEE P1149.8.1
    · Введение в стандарт IEEE 1500 для тестопригодного проектирования СнК (Часть 1)