JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT
В JTAG мы знаем все!
«... Мы говорим JTAG, подразумеваем — ТЕСТ,
мы говорим ТЕСТ, подразумеваем — JTAG!»

«JTAG-тестирование и тестопригодное проектирование»
Ежемесячная авторская колонка Ами Городецкого в московском журнале

Журнал «Компоненты и технологии»

Новости в области теории и практики тестопригодного проектирования (DFT),
граничного сканирования (JTAG) и внутрисхемного тестирования (ICT)

После многолетнего бесплатного цитирования материалов нашей колонки из КиТа
на нашем сайте мы решили эту порочную практику сменить на более логичный подход.

Отныне и впредь прочесть материалы моих журнальных колонок, как старых, так и новых, можно будет одним из двух способов:

  • на условиях журнала КиТ, обратившись непосредственно в редакцию;
  • бесплатно: сделав запрос лично у автора д-ра Ами Городецкого.

Заголовки дальнейших колонок, которые, разумеется, будут продолжать публиковаться, будут анонсироваться только в журнале КиТ.

Раздел «JTAG-тестирование и тестопригодное проектирование» в журнале «Компоненты и технологии» (КиТ) публикуется ежемесячно, представляя собой краткие обзоры отдельных аспектов структурного тестирования и тестопригодного проектирования электронных схем и узлов. Содержание раздела не определяется каким-либо заранее намеченным планом, но отслеживает новости в таких областях структурного тестирования электроники, как технологии граничного сканирования (ГС, JTAG), внутрисхемное тестирование (ICT) и тестопригодное проектирование (DFT).

Спектр тем, которые охватывает раздел «JTAG-тестирование и тестопригодное проектирование», в основном, следующий:

  • Принципы цифровых и аналоговых технологий JTAG, алгоритмы и тесты
  • Тестопригодное проектирование в JTAG-технологиях для ПП, ИС и СБИС, модулей и систем
  • Аналоговый JTAG-стандарт IEEE 1149.4 и усовершенствованный JTAG-стандарт IEEE 1149.6 для дифференциальных LVDS-цепей
  • Язык описания JTAG-структур (BSDL) и последовательный векторный формат SVF
  • Внутрисхемное конфигурирование (ISC) в стандарте IEEE 1532
  • Kонтактные методы и средства структурного тестирования (ICT)
  • Системы разработки и поддержки JTAG-тест-программ ведущих мировых фирм
  • Тенденции развития технологий ГС и новые стандарты
  • Новые JTAG-стандарты IEEE 1149.7, IEEE 1149.8.1, IEEE 1687
  • Новости и обзоры ежегодных международных конференций по тестированию (International Test Conference)

Ввиду ограниченности журнальной площади и нежелания прямого цитирования уже вышедших в свет материалов автор постоянно ссылается на ранее опубликованные колонки в журнале КиТ, а также на публикуемый на нашем сайте цикл статей «Основы технологии граничного сканирования и тестопригодного проектирования». Такой подход подразумевает использование понятий и терминов, введенных и объясненных в цитируемых статьях, а также многочисленных аббревиатур, как правило, без дополнительных пояснений.

Тематика раздела зависит также от интересов читателей и активности их обратной связи с редакцией журнала КиТ и автором колонки, на которую автор от всей души надеется и заранее выражает свою признательность.

Информацию о выкладывании на сайте новых колонок «JTAG-тестирование и тестопригодное проектирование» журнала КиТ по мере их выхода в печати можно оперативно получать, подписавшись на NEWS-рассылку (см. в правой колонке этой странички).


Авторизоваться:

Логин (e-mail):
Пароль:
Регистрация / Забыли пароль?

English

NEWS-рассылка


Скачать БЕСПЛАТНО
JTAG-систему onTAP
на 30 дней!

Отзывы о нас

Новости JTAG-Test

Август 2017.
Новые возможности в JTAG Manager Ver.4.X.
Интерактивное окно "Вид тестируемой ПП".
26.04.2017 г.
Ценовая революция в JTAG Manager.
22.04.2013 г.
Мы рады информировать наших друзей,
что исправленная редакция монографии д-ра Ами Городецкого
«ВВЕДЕНИЕ В ТЕХНОЛОГИИ JTAG И DFT. ТЕСТИРОВАНИЕ В ТЕХНОЛОГИЯХ ГРАНИЧНОГО СКАНИРОВАНИЯ И ТЕСТОПРИГОДНОЕ ПРОЕКТИРОВАНИЕ»
вышла в издательстве PALMARIUM ACADEMIC PUBLISHING, GERMANY. Книгу можно приобрести здесь.
Или через наш сайт, с небольшой скидкой.
Пишите на info@jtag-test.ru
07.05.2012 г.
Мы с удовольствием сообщаем нашим читателям и подписчикам, что в немецком академическом издательстве Palmarium в Саарбрюккене, Германия, вышла в свет монография д-ра Ами Городецкого «Введение в технологии JTAG и DFT. Тестирование в технологиях граничного сканирования и тестопригодное проектирование», 2012, Palmarium Academic Publishing, Germany, ISBN 978-3-8473-9324-5.

Новости JTAG-Test

26.04.2017 г.
Ценовая революция в JTAG Manager.
08.08.2013 г.
Выложена для скачивания обновленная версия (4965) бесплатного графического поисковика Test Fault Locator.
07.08.2013 г.
Выложена для скачивания обновленная версия (4942) бесплатного графического поисковика Test Fault Locator.
22.04.2013 г.
К сайту подключена новая страница с описанием нашего нового программного продукта Test Fault Locator.
22.04.2013 г.
Мы рады информировать наших друзей,
что исправленная редакция монографии д-ра Ами Городецкого
«ВВЕДЕНИЕ В ТЕХНОЛОГИИ JTAG И DFT. ТЕСТИРОВАНИЕ В ТЕХНОЛОГИЯХ ГРАНИЧНОГО СКАНИРОВАНИЯ И ТЕСТОПРИГОДНОЕ ПРОЕКТИРОВАНИЕ»
вышла в издательстве PALMARIUM ACADEMIC PUBLISHING, GERMANY. Книгу можно приобрести здесь.
Или через наш сайт, с небольшой скидкой.
Пишите на info@jtag-test.ru
08.07.2012 г.
К сайту подключена новая страница с описанием нашего нового программно-аппаратного продукта JTAG Overseer
07.05.2012 г.
Мы с удовольствием сообщаем нашим читателям и подписчикам, что в немецком академическом издательстве Palmarium в Саарбрюккене, Германия, вышла в свет монография д-ра Ами Городецкого «Введение в технологии JTAG и DFT. Тестирование в технологиях граничного сканирования и тестопригодное проектирование», 2012, Palmarium Academic Publishing, Germany, ISBN 978-3-8473-9324-5.

Пресс-релизы

Разработан, произведен и полностью доступен новый аппаратный модуль JEMIO-LVDS — эффективное дополнение к модулю JEMIO. В полной конфигурации модуль JEMIO-LVDS обеспечивает 36 LVDS-входных каналов и 36 LVDS-выходных каналов, плюс 2 TTL I/O канала и может быть соответственно конфигурирован по желанию пользователя. Подробности см. здесь.
Разработан, произведен и полностью доступен новейший модуль для кластерного JTAG-тестирования цепей miniPCI. В полной конфигурации модуль JEM_MiniPCI-T III обеспечивает тестирование 83-х PCI и резервных каналов, 33-х линий земли и питания, а также нескольких конфигурируемых петлевых соединений. Подробности см. здесь.
Разработан, произведен и полностью доступен новейший модуль для тестирования памяти типа UDIMM (DDR3 Unbuffered DIMM). Примеры модулей памяти DDR3 — MT18JSF25672AZ — 2GB, MT18JSF51272AZ — 4GB. Подробности — см. здесь.


 

Карта сайта | О нас | Услуги | Софт & хард | JTAG-Библиотека | Партнеры и заказчики | Поддержка | onTAP | Контакты | Монография
Написать вебмастеру
© JTAG.ТЕСТ, 2009.
Все права защищены.