ВХОДНОЙ АБОНЕМЕНТ

для чтения и копирования ВСЕХ статей цикла

«Основы теории и практики тестопригодного проектирования (DFT),
граничного сканирования (JTAG) и внутрисхемного тестирования (ICT)»

В ТЕЧЕНИЕ ПОЛУГОДА.

Этот абонемент является формой оплаты обучения в JTAG-университете и предусматривает возможность задавать любые вопросы и получать профессиональные ответы д-ра JTAG (по переписке,

) по тематике статей цикла в течение всего срока абонемента. Чтение статей цикла в журнале «Производство электроники», в котором они публикуются, и в любых других местах НЕ предусматривает возможности задавать вопросы и получать ответы по тематике статей цикла в рамках нашего JTAG-университета.

Оплату можно произвести через наш сайт практически моментально при помощи самых разнообразных средств платежа.

Доступ к авторским колонкам д-ра Ами Городецкого из журнала «Компоненты и Технологии» по-прежнему свободный и таковым останется впредь.

Оплату абонемента можно произвести со страницы с любой из статей цикла.

Оставайтесь с нами и Вы всегда будете на переднем крае технологий тестирования в электронике!

Для подтверждения оплаты следует указать номер своего мобильного телефона для получения на него посредством SMS кода подтверждения от системы www.liqpay.com в формате abcdefgh --.
Для подтверждения платежа наберите только abcdefgh, опустив два заключительных тире.
Оплата посредством SMS не предусмотрена!
Используйте для оплаты один из 15 возможных способов в четырех валютах: в рублях, долларах, евро и гривнах.
Доступ к любой из статей цикла, как уже выложенных, так и тех, которые будут выложены в течение оплаченного полугода, будет оставаться открытым все шесть месяцев!

Авторизоваться:

Регистрация / Забыли пароль?

JTAG-УНИВЕРСИТЕТ
    · АБОНЕМЕНТ JTAG-УНИВЕРСИТЕТА
    · Основы JTAG и DFT
    · Журнал «Компоненты и Технологии»
    · Система разработки тестов onTAP
    · Отзывы преподавателей и доцентов университетов по индивидуальной стажировке

English

NEWS-рассылка

АБОНЕМЕНТ JTAG-УНИВЕРСИТЕТА

Скачать БЕСПЛАТНО
JTAG-систему onTAP
на 30 дней!

Отзывы о нас

Новости JTAG-Университета

07.05.2012 г.

Мы рады сообщить нашим читателям и подписчикам, что на днях в академическом издательстве Palmarium в Саарбрюккене, Германия, выходит в свет монография д-ра Ами Городецкого «Введение в технологии JTAG и DFT»

17.12.2011 г.
Выложена статья «Введение в стандарт IEEE 1500 для тестопригодного проектирования СнК (Часть 1)».

05.11.2011 г.
Выложена статья из журнала «КиТ» № 11. 2011 «Тестирование ICT: векторное или безвекторное?»

25.08.2011 г.
Выложена статья из журнала «КиТ» № 9. 2011 «Еще раз о внутрисхемном тестировании ICT (окончание)»

28.07.2011 г.
Выложена статья из журнала «КиТ» № 8. 2011 «Снова о внутрисхемном тестировании (продолжение)»

Новости JTAG.ТЕСТ

08.05.2012 г.

Уважаемые читатели и подписчики нашего сайта!
Обратите внимание на наш дочерний сайт www.the-way-in.com,
мы надеемся, что он Вас заинтересует!
The Way In

Пресс-релизы

Разработан, произведен и полностью доступен новейший модуль для тестирования памяти типа UDIMM (DDR3 Unbuffered DIMM). Примеры модулей памяти DDR3 — MT18JSF25672AZ — 2GB, MT18JSF51272AZ — 4GB. Подробности — см. на www.jtag-test.ru/SoftAndHard/SODIMM.php.

Началась подготовка к 10-му юбилейному симпозиуму EWDTS, который пройдет в Харькове.

JTAG.TECT Delivers onTAP to Russian Customers


Карта сайта \| О нас \| Услуги \| Софт & хард \| JTAG-Университет \| Партнеры и заказчики \| Поддержка \| JTAG-форум \| Контакты \| Монография
Написать вебмастеру	© JTAG.ТЕСТ, 2009. Все права защищены.