JTAG-Университет
Добро пожаловать в JTAG-Университет (читается «джЭйтаг»), первый и единственный университет на русском языке, специализирующийся на обучении наиболее современным технологиям тестирования и тестопригодного проектирования электроники на разных уровнях — микросхем, плат, узлов и систем.
Наш Университет имеет следующие факультеты:
- Технологии граничного сканирования (ГС, JTAG);
- Внутрисхемное тестирование (ICT);
- Тестопригодное проектирование (DFT);
- Внутрисхемное программирование (ISP, ISC).
Обучение в JTAG-Университете заочное, по переписке посредством e-mail. Наши студенты имеют возможность самостоятельно учиться по предоставляемым нами БЕСПЛАТНО материалам и задавать любые вопросы по тематике факультетов.
- Для всех пользователей системы onTAP фирмы Flynn, а также пользователей системы ProVision фирмы JTAG Technologies, имеющих соглашение о поддержке с компанией JTAG.ТЕСТ, обучение также БЕСПЛАТНОЕ.
- ВХОДНОЙ АБОНЕМЕНТ для чтения и копирования ВСЕХ статей цикла В ТЕЧЕНИЕ ПОЛУГОДА стоит необременительную сумму 500 руб. Оплату можно произвести через наш сайт практически моментально при помощи самых разнообразных средств платежа. Этот абонемент является формой оплаты обучения в JTAG-университете и предусматривает возможность задавать любые вопросы и получать ответы по тематике статей цикла в течение всего срока абонемента. Чтение статей цикла в журнале «Производство электроники», в котором они публикуются, и в любых других местах НЕ предусматривает возможности задавать вопросы и получать ответы по тематике статей цикла в рамках нашего JTAG-университета. Не научившись у нас, Вы не научитесь нигде!
|
Наши статьи и патенты в журналах и интернете
|
- JTAG-тестирование печатных плат в российской компании PCB Technology
- «Принцип граничного сканирования»: Сайт «Новости Микроэлектроники», ChipNews, Moсква, 2001, #6, pp. 14-19
- «Бесконтактное внутрисхемное тестирование аналого-цифровых схем»: East-West Design & Test Workshop EWDTW05, Одесса, Украина; «Радиоэлектроника и Информатика», N 3, 2005, Харьков, Украина
- «Bridge For On-Board and On-Chip 1149.4-Compliant Testability»: 4th IEEE International Board Test Workshop, Ft Collins, CO, USA, 2005
- «DFT as Test Optimization Strategy»: The 22nd IEEE Convention in Israel, Tel Aviv, 2002
- «Device and Method For Testing Mixed-Signal Circuits»: US Patent Application #20070035321 Class: 324761000 (USPTO), filed on August 30, 2005
- «In-Circuit Testing Optimization Generator»: US Patent Application #20030014206
- «Test and On-board Programming Station»: US Patent Application #20020170000
|
Курсы повышения квалификации инженеров и техников в Колледже высоких технологий в Герцлии (Израиль)
Семестровые курсы
тестопригодного проектирования (DFT) и технологий граничного сканирования (JTAG)
для студентов факультета инженерных и компьютерных наук
Еврейского Университета в Иерусалиме (The Hebrew University of Jerusalem)
и для студентов инженерного факультета
Холонского Технологического Института (Holon Institute of Technology),
Израиль
Вы можете свободно скачивать презентации моих студентов за много лет и использовать их для самообразования.
Большинство из них — на английском, и подготовлены они в формате PowerPoint.
Свободные сетевые ресурсы
Стандарты JTAG
|
АБОНЕМЕНТ JTAG-УНИВЕРСИТЕТА
Скачать БЕСПЛАТНО JTAG-систему onTAP на 30 дней!
Отзывы о нас
Новости JTAG-Университета
 07.05.2012 г.
Новости JTAG.ТЕСТ
 08.05.2012 г.
Пресс-релизы

Разработан, произведен и полностью доступен новейший модуль для тестирования памяти типа UDIMM (DDR3 Unbuffered DIMM). Примеры модулей памяти DDR3 — MT18JSF25672AZ — 2GB, MT18JSF51272AZ — 4GB. Подробности — см. на www.jtag-test.ru/SoftAndHard/SODIMM.php.
|
|