JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT
В JTAG мы знаем все!
«... Мы говорим JTAG, подразумеваем — ТЕСТ,
мы говорим ТЕСТ, подразумеваем — JTAG!»

JTAG-Университет

Учитесь самостоятельно и задавайте вопросы профессионалам!

Добро пожаловать в JTAG-Университет (читается «джЭйтаг»), первый и единственный университет на русском языке, специализирующийся на обучении наиболее современным технологиям тестирования и тестопригодного проектирования электроники на разных уровнях — микросхем, плат, узлов и систем.

JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT

Наш Университет имеет следующие факультеты:


  • Технологии граничного сканирования (ГС, JTAG);
  • Внутрисхемное тестирование (ICT);
  • Тестопригодное проектирование (DFT);
  • Внутрисхемное программирование (ISP, ISC).

Обучение в JTAG-Университете заочное, по переписке посредством e-mail. Наши студенты имеют возможность самостоятельно учиться по предоставляемым нами БЕСПЛАТНО материалам и задавать любые вопросы по тематике факультетов.

  • Для всех пользователей системы onTAP фирмы Flynn, а также пользователей системы ProVision фирмы JTAG Technologies, имеющих соглашение о поддержке с компанией JTAG.ТЕСТ, обучение также БЕСПЛАТНОЕ.
  • ВХОДНОЙ АБОНЕМЕНТ для чтения и копирования ВСЕХ статей цикла В ТЕЧЕНИЕ ПОЛУГОДА стоит необременительную сумму 500 руб. Оплату можно произвести через наш сайт практически моментально при помощи самых разнообразных средств платежа. Этот абонемент является формой оплаты обучения в JTAG-университете и предусматривает возможность задавать любые вопросы и получать ответы по тематике статей цикла в течение всего срока абонемента. Чтение статей цикла в журнале «Производство электроники», в котором они публикуются, и в любых других местах НЕ предусматривает возможности задавать вопросы и получать ответы по тематике статей цикла в рамках нашего JTAG-университета. Не научившись у нас, Вы не научитесь нигде!

Наши статьи и патенты в журналах и интернете

JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT         

Курсы повышения квалификации инженеров и техников
в Колледже высоких технологий в Герцлии (Израиль)

JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT

Семестровые курсы
тестопригодного проектирования (DFT) и технологий граничного сканирования (JTAG)
для студентов факультета инженерных и компьютерных наук
Еврейского Университета в Иерусалиме (The Hebrew University of Jerusalem)
и для студентов инженерного факультета
Холонского Технологического Института (Holon Institute of Technology),
Израиль

JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT

Вы можете свободно скачивать презентации моих студентов за много лет и использовать их для самообразования. Большинство из них — на английском, и подготовлены они в формате PowerPoint.


Свободные сетевые ресурсы

JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT

Стандарты JTAG

 

Авторизоваться:

Логин (e-mail):
Пароль:
Регистрация / Забыли пароль?

English

NEWS-рассылка

АБОНЕМЕНТ JTAG-УНИВЕРСИТЕТА


Скачать БЕСПЛАТНО
JTAG-систему onTAP
на 30 дней!

Отзывы о нас

Новости JTAG-Университета

Новости JTAG.ТЕСТ

Пресс-релизы

Разработан, произведен и полностью доступен новейший модуль для тестирования памяти типа UDIMM (DDR3 Unbuffered DIMM). Примеры модулей памяти DDR3 — MT18JSF25672AZ — 2GB, MT18JSF51272AZ — 4GB. Подробности — см. на www.jtag-test.ru/SoftAndHard/SODIMM.php.
Началась подготовка к 10-му юбилейному симпозиуму EWDTS, который пройдет в Харькове.
EWDTS


 

Карта сайта | О нас | Услуги | Софт & хард | JTAG-Университет | Партнеры и заказчики | Поддержка | JTAG-форум | Контакты | Монография
Написать вебмастеру
© JTAG.ТЕСТ, 2009.
Все права защищены.