Кто такой Dr. JTAG?

Dr. JTAG — это коллективное имя двух экспертов в области тестирования электроники, технологий граничного сканирования (JTAG), внутрисхемного тестирования (ICT) и тестопригодного проектирования, а также авторов цикла фундаментальных статей введения в технологии граничного сканирования в журнале «Производство электроники»: к. т. н.  Ами Городецкого и Леонида Курилана.

Dr. JTAG обладает более чем 50-летним суммарным опытом (в СССР и Израиле) анализа тестопригодности электронных схем и разработки для них тестов для десятков израильских и международных компаний. Имеет значительный опыт практической работы с большинством известных в мире систем генерации тестов на основе использования технологий граничного сканирования (фирм Asset, Corelis, Goepel, Flynn Systems, JTAG Technologies, XJTAG) и внутрисхемного тестирования (ICT) на тестерах фирмы Teradyne, является консультантом по DFT, ICT и JTAG множества израильских и международных фирм высоких технологий, среди которых Marvell, Allot, PMC-Sierra, Voltaire, Verint, General Electric Medical, Mennen Medical, Flextronics, Alvarion, Comverse, Elbit, Mellanox, Visonic, Avaya, Applied Materials, Zicon, Rokar, Sanmina SCI, Kodak, RAD Vision и другиe.

Кроме того, к.т.н. Ами Городецкий много лет преподает технологии JTAG и принципы тестопригодного проектирования студентам Еврейского университета в Иерусалиме (факультет компьютерных наук) и инженерам и техникам — в Колледже высоких технологий в Герцлии, а также ведет раздел «JTAG-тестирование и тестопригодное проектирование» в московском журнале «Компоненты и технологии».