Отзывы о нас

Мнения наших заказчиков

Структурное тестирование JTAG и ICT на фирме Alvarion. Успехи в тестировании на заводе Flextronics. Тестирование прототипов плат еще до того, как они начинают реально работать, значительно уменьшает расходы на разработку в компании PMC-SierraT при использовании JTAG-тест сервиса фирмы JTAG.ТЕСТ. Успехи в тестировании на заводе Voltaire.

Мнения наших читателей

Зайцев А. А., ФГУП ПО «Электpопpибоp», Пенза: «Огромное Вам спасибо за предоставленную информацию! Простите что не сразу ответил — зачитался и совершенно забыл Вас поблагодарить! Отличные статьи! Очень информативные. Найти подобную информацию, да ещё и на русском — большая редкость! До их прочтения у меня было довольно сумбурное представление о технологии граничного сканирования. Теперь же всё встаёт на свои места. И, признаться честно, благодаря Вашим статьям, возник неподдельный интерес к данной теме».

Чхутиашвили Г. И., ОАО РИРВ, Санкт-Петербург: «Статьи написаны в очень доступной форме, что нравится мне — по ним очень хорошо знакомить людей с технологией граничного сканирования».

Семенов А. В., РНИИ «Электронстандарт», Санкт-Петербург: «Благодаря Вашим статьям довольно быстро реализовал режимы BYPASS и IDCODE».

А. Вершинин, ЗАО «ГРАНИТ-ВТ», Санкт-Петербург: «C помощью добавленной опции time between scans удалось автоматически сгенерировать тест линий питания с большой емкостной нагрузкой. Спасибо!»

Пресса России о нас

Семинар на PCB Technology, СПб, 2008.