JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT
В JTAG мы знаем все!
«... Мы говорим JTAG, подразумеваем — ТЕСТ,
мы говорим ТЕСТ, подразумеваем — JTAG!»

Тестирование прототипов плат еще до того, как они начинают реально работать, значительно уменьшает расходы на разработку в компании PMC-Sierra при использовании JTAG-тест сервиса фирмы StarTest-JTAG.ТЕСТ

JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT

Компания PMC-Sierra™ является мировым лидером в области разработок микросхем для широполосных и беспроводных средств связи, запоминающих устройств и лазерных принтеров. Гади Рахмани из филиала компании в Герцлии, Израиль, является техническим менеджером, ответственным за производство печатных плат (ПП) для испытаний и отладки новых микросхем. Гади обратился к фирме StarTest-JTAG.ТЕСТ в поисках наиболее эффективного подхода к тестированию прототипов сложных ПП. Число контрольных точек в таких платах постоянно сокращается вследствие значительного повышения плотности монтажа и применения микросхем высокой интеграции в корпусах fine-pitch и BGA. Вследствие этого применение традиционных методов тестирования с зондами становится невозможным, а само тестирование ПП превращается в дорогостоящий и времяемкий процесс.

Инженеры-разработчики зачастую заходят в тупик, сталкиваясь с необходимостью тестирования современных сложных ПП, а поиск и обнаружение дефектов в них до того, как ПП проходят функциональное тестирование, приносят только разочарования. Эта проблема тестирования, будучи помноженной на невозможность физического доступа к критическим контрольным точкам, превращает процесс отладки ПП в главный фактор, фатально выбрасывающий разработчиков ПП из намеченного временного графика. Хорошо зная природу этих ловушек, Гади искал наиболее эффективное решение для ускорения и упрощения процесса начальной отладки ПП.

Тест-сервис фирмы StarTest-JTAG.ТЕСТ позволил компании PMC-Sierra (Israel) готовить программы JTAG-тестирования еще до того, как оканчивается процесс сборки ПП. Сразу же после получения собранных ПП они проходят JTAG-тестирование. Еще до того, как первый код поступает на процессор ПП, плата тестируется на целостность межэлементных связей, проверяются ее элементы памяти, программируются ПЛМ, элементы флэш-памяти и FPGA, проверяется исправность монтажа большинства разъемов, а также внутрисхемная логика и значительная часть цифро-аналоговых микросхем.

— Тест-сервис фирмы StarTest-JTAG.ТЕСТ исключительно эффективен, — утверждает Гади. — С его помощью мы находим дефекты сборки ПП и выполняем ее внутрисхемное программирование еще до того, как плата впервые включается в функциональный режим. Я уверен, что это экономит нам множество времени на обнаружение и поиск неисправностей. Мы очень довольны как уровнем обслуживания, получаемого от фирмы StarTest-JTAG.ТЕСТ, так и их постоянной готовностью немедленно нам помочь.


English

NEWS-рассылка


Скачать БЕСПЛАТНО
JTAG-систему onTAP
на 30 дней!

Отзывы о нас

Новости JTAG-Test

26.04.2017 г.
Ценовая революция в JTAG Manager.
22.04.2013 г.
Мы рады информировать наших друзей,
что исправленная редакция монографии д-ра Ами Городецкого
«ВВЕДЕНИЕ В ТЕХНОЛОГИИ JTAG И DFT. ТЕСТИРОВАНИЕ В ТЕХНОЛОГИЯХ ГРАНИЧНОГО СКАНИРОВАНИЯ И ТЕСТОПРИГОДНОЕ ПРОЕКТИРОВАНИЕ»
вышла в издательстве PALMARIUM ACADEMIC PUBLISHING, GERMANY. Книгу можно приобрести здесь.
Или через наш сайт, с небольшой скидкой.
Пишите на info@jtag-test.ru
07.05.2012 г.
Мы с удовольствием сообщаем нашим читателям и подписчикам, что в немецком академическом издательстве Palmarium в Саарбрюккене, Германия, вышла в свет монография д-ра Ами Городецкого «Введение в технологии JTAG и DFT. Тестирование в технологиях граничного сканирования и тестопригодное проектирование», 2012, Palmarium Academic Publishing, Germany, ISBN 978-3-8473-9324-5.

Новости JTAG-Test

26.04.2017 г.
Ценовая революция в JTAG Manager.
08.08.2013 г.
Выложена для скачивания обновленная версия (4965) бесплатного графического поисковика Test Fault Locator.
07.08.2013 г.
Выложена для скачивания обновленная версия (4942) бесплатного графического поисковика Test Fault Locator.
22.04.2013 г.
К сайту подключена новая страница с описанием нашего нового программного продукта Test Fault Locator.
22.04.2013 г.
Мы рады информировать наших друзей,
что исправленная редакция монографии д-ра Ами Городецкого
«ВВЕДЕНИЕ В ТЕХНОЛОГИИ JTAG И DFT. ТЕСТИРОВАНИЕ В ТЕХНОЛОГИЯХ ГРАНИЧНОГО СКАНИРОВАНИЯ И ТЕСТОПРИГОДНОЕ ПРОЕКТИРОВАНИЕ»
вышла в издательстве PALMARIUM ACADEMIC PUBLISHING, GERMANY. Книгу можно приобрести здесь.
Или через наш сайт, с небольшой скидкой.
Пишите на info@jtag-test.ru
08.07.2012 г.
К сайту подключена новая страница с описанием нашего нового программно-аппаратного продукта JTAG Overseer
07.05.2012 г.
Мы с удовольствием сообщаем нашим читателям и подписчикам, что в немецком академическом издательстве Palmarium в Саарбрюккене, Германия, вышла в свет монография д-ра Ами Городецкого «Введение в технологии JTAG и DFT. Тестирование в технологиях граничного сканирования и тестопригодное проектирование», 2012, Palmarium Academic Publishing, Germany, ISBN 978-3-8473-9324-5.

Пресс-релизы

Разработан, произведен и полностью доступен новый аппаратный модуль JEMIO-LVDS — эффективное дополнение к модулю JEMIO. В полной конфигурации модуль JEMIO-LVDS обеспечивает 36 LVDS-входных каналов и 36 LVDS-выходных каналов, плюс 2 TTL I/O канала и может быть соответственно конфигурирован по желанию пользователя. Подробности см. здесь.
Разработан, произведен и полностью доступен новейший модуль для кластерного JTAG-тестирования цепей miniPCI. В полной конфигурации модуль JEM_MiniPCI-T III обеспечивает тестирование 83-х PCI и резервных каналов, 33-х линий земли и питания, а также нескольких конфигурируемых петлевых соединений. Подробности см. здесь.
Разработан, произведен и полностью доступен новейший модуль для тестирования памяти типа UDIMM (DDR3 Unbuffered DIMM). Примеры модулей памяти DDR3 — MT18JSF25672AZ — 2GB, MT18JSF51272AZ — 4GB. Подробности — см. здесь.


 

Карта сайта | О нас | Услуги | Софт & хард | JTAG-Библиотека | Партнеры и заказчики | Поддержка | onTAP | Контакты | Монография
Написать вебмастеру
© JTAG.ТЕСТ, 2009.
Все права защищены.