![]() |
Тестирование прототипов плат еще до того, как они начинают реально работать, значительно уменьшает расходы на разработку в компании PMC-Sierra при использовании JTAG-тест сервиса фирмы StarTest-JTAG.ТЕСТ![]() Компания PMC-Sierra™ является мировым лидером в области разработок микросхем для широполосных и беспроводных средств связи, запоминающих устройств и лазерных принтеров. Гади Рахмани из филиала компании в Герцлии, Израиль, является техническим менеджером, ответственным за производство печатных плат (ПП) для испытаний и отладки новых микросхем. Гади обратился к фирме StarTest-JTAG.ТЕСТ в поисках наиболее эффективного подхода к тестированию прототипов сложных ПП. Число контрольных точек в таких платах постоянно сокращается вследствие значительного повышения плотности монтажа и применения микросхем высокой интеграции в корпусах fine-pitch и BGA. Вследствие этого применение традиционных методов тестирования с зондами становится невозможным, а само тестирование ПП превращается в дорогостоящий и времяемкий процесс. Инженеры-разработчики зачастую заходят в тупик, сталкиваясь с необходимостью тестирования современных сложных ПП, а поиск и обнаружение дефектов в них до того, как ПП проходят функциональное тестирование, приносят только разочарования. Эта проблема тестирования, будучи помноженной на невозможность физического доступа к критическим контрольным точкам, превращает процесс отладки ПП в главный фактор, фатально выбрасывающий разработчиков ПП из намеченного временного графика. Хорошо зная природу этих ловушек, Гади искал наиболее эффективное решение для ускорения и упрощения процесса начальной отладки ПП. Тест-сервис фирмы StarTest-JTAG.ТЕСТ позволил компании PMC-Sierra (Israel) готовить программы JTAG-тестирования еще до того, как оканчивается процесс сборки ПП. Сразу же после получения собранных ПП они проходят JTAG-тестирование. Еще до того, как первый код поступает на процессор ПП, плата тестируется на целостность межэлементных связей, проверяются ее элементы памяти, программируются ПЛМ, элементы флэш-памяти и FPGA, проверяется исправность монтажа большинства разъемов, а также внутрисхемная логика и значительная часть цифро-аналоговых микросхем. — Тест-сервис фирмы StarTest-JTAG.ТЕСТ исключительно эффективен, — утверждает Гади. — С его помощью мы находим дефекты сборки ПП и выполняем ее внутрисхемное программирование еще до того, как плата впервые включается в функциональный режим. Я уверен, что это экономит нам множество времени на обнаружение и поиск неисправностей. Мы очень довольны как уровнем обслуживания, получаемого от фирмы StarTest-JTAG.ТЕСТ, так и их постоянной готовностью немедленно нам помочь. |
EnglishNEWS-рассылкаАБОНЕМЕНТ JTAG-УНИВЕРСИТЕТАСкачать БЕСПЛАТНО
JTAG-систему onTAP на 30 дней! Отзывы о насНовости JTAG-Университета 07.05.2012 г.Мы рады сообщить нашим читателям и подписчикам, что на днях в академическом
издательстве Palmarium в Саарбрюккене, Германия, выходит в свет монография
д-ра Ами Городецкого «Введение в технологии JTAG и DFT»
17.12.2011 г.Выложена статья «Введение в стандарт IEEE 1500 для тестопригодного проектирования СнК (Часть 1)». 05.11.2011 г.Выложена статья из журнала «КиТ» № 11. 2011 «Тестирование ICT: векторное или безвекторное?» 25.08.2011 г.Выложена статья из журнала «КиТ» № 9. 2011 «Еще раз о внутрисхемном тестировании ICT (окончание)» 28.07.2011 г.Выложена статья из журнала «КиТ» № 8. 2011 «Снова о внутрисхемном тестировании (продолжение)» Новости JTAG.ТЕСТПресс-релизы
Разработан, произведен и полностью доступен новейший модуль для тестирования памяти типа UDIMM (DDR3 Unbuffered DIMM). Примеры модулей памяти DDR3 — MT18JSF25672AZ — 2GB, MT18JSF51272AZ — 4GB. Подробности — см. на www.jtag-test.ru/SoftAndHard/SODIMM.php.
Началась подготовка к 10-му юбилейному симпозиуму EWDTS, который пройдет в Харькове.![]() |

| Карта сайта | О нас | Услуги | Софт & хард | JTAG-Университет | Партнеры и заказчики | Поддержка | JTAG-форум | Контакты | Монография | |
| Написать вебмастеру |
© JTAG.ТЕСТ, 2009. Все права защищены. |