JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT
В JTAG мы знаем все!
«... Мы говорим JTAG, подразумеваем — ТЕСТ,
мы говорим ТЕСТ, подразумеваем — JTAG!»

Успехи в тестировании на заводе Flextronics

JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT

Когда на израильском заводе международной корпорации Flextronics, являющейся крупнейшим в мире контрактным изготовителем печатных плат (ПП), столкнулись с беспрецедентным потоком отказов в собранных ПП с исключительно высокой плотностью монтажа, Михаэль Долкин, менеджер новой продукции, находился в весьма затруднительной ситуации.

— Поскольку на нашем заводе не было ни подготовленных специалистов, ни соответствующих программно-аппаратных средств для JTAG-тестирования, — рассказывает Михаэль, — мы обратились за помощью к фирме StarTest-JTAG.ТЕСТ, имеющей многолетнюю прекрасную репутацию на израильском рынке высоких технологий. Программы тестирования, полученные от StarTest-JTAG.ТЕСТ, зарекомендовали себя наилучшим образом также и у нас».

Современные ПП израильских электронных компаний, изготавливаемые на заводе Flextronics Israel в Мигдаль-Аэмеке, имеют очень высокую плотность монтажа интегральных микросхем (ИС) в корпусах fine-pitch и BGA. При такой плотности монтажа физический доступ к контрольным точкам на поверхности ПП и к самим ИС попросту отсутствует, так что использование тестеров ICT для обнаружения и локализации дефектов сборки элементов SMT малоэффективно.

Мы давно и широко применяем тестеры ICT для внутрисхемного тестирования в тесной кооперации с фирмой StarTest-JTAG.ТЕСТ, разрабатывающей для нас также и программы ICT-тестирования, однако для некоторых ПП такое тестирование невозможно или неоправданно, — объясняет Михаэль. — Поэтому мы обратились к тестированию методом граничного сканирования (JTAG). Мы используем оба эти метода тестирования как взаимодополняющие, что дает замечательные результаты. Поскольку плотность монтажа контрактных ПП неуклонно растет, а большинство современных ИС имеют встроенную структуру JTAG, мы все чаще, практически для любой современной ПП, применяем технологию тестирования методом граничного сканирования, а фирма StarTest-JTAG.ТЕСТ разрабатывает для нас высокоэффективные программы JTAG- и ICT-тестирования.

StarTest-JTAG.ТЕСТ обеспечивает для Flextronics Israel разработку и поддержку программ JTAG-тестирования и внутрисхемного программирования на платформах Corelis (США) и JTAG Technologies (Голландия). Эти программы позволяют легко обнаруживать такие наиболее часто встречающиеся неисправности сборки ПП, как перемычки и короткие замыкания. Диагностические возможности программ тестирования StarTest указывают на место неисправности (контакт ИС или цепь схемы) с весьма высокой точностью, что позволяет быстро устранить неисправность.

На нашем заводе вовсе не планируется разработка и поддержка программ тестирования собственными силами, — заключает Михаэль Долкин, — поскольку сотрудничество с компанией StarTest-JTAG.ТЕСТ себя полностью оправдывает. Профессионалы StarTest-JTAG.ТЕСТ работают ответственно и эффективно для обеспечения высокого качества нашей продукции.


English

NEWS-рассылка

АБОНЕМЕНТ JTAG-УНИВЕРСИТЕТА


Скачать БЕСПЛАТНО
JTAG-систему onTAP
на 30 дней!

Отзывы о нас

Новости JTAG-Университета

Новости JTAG.ТЕСТ

Пресс-релизы

Разработан, произведен и полностью доступен новейший модуль для тестирования памяти типа UDIMM (DDR3 Unbuffered DIMM). Примеры модулей памяти DDR3 — MT18JSF25672AZ — 2GB, MT18JSF51272AZ — 4GB. Подробности — см. на www.jtag-test.ru/SoftAndHard/SODIMM.php.
Началась подготовка к 10-му юбилейному симпозиуму EWDTS, который пройдет в Харькове.
EWDTS


 

Карта сайта | О нас | Услуги | Софт & хард | JTAG-Университет | Партнеры и заказчики | Поддержка | JTAG-форум | Контакты | Монография
Написать вебмастеру
© JTAG.ТЕСТ, 2009.
Все права защищены.