JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT
В JTAG мы знаем все!
«... Мы говорим JTAG, подразумеваем — ТЕСТ,
мы говорим ТЕСТ, подразумеваем — JTAG!»

Успехи в тестировании на заводе Flextronics

JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT

Когда на израильском заводе международной корпорации Flextronics, являющейся крупнейшим в мире контрактным изготовителем печатных плат (ПП), столкнулись с беспрецедентным потоком отказов в собранных ПП с исключительно высокой плотностью монтажа, Михаэль Долкин, менеджер новой продукции, находился в весьма затруднительной ситуации.

— Поскольку на нашем заводе не было ни подготовленных специалистов, ни соответствующих программно-аппаратных средств для JTAG-тестирования, — рассказывает Михаэль, — мы обратились за помощью к фирме StarTest-JTAG.ТЕСТ, имеющей многолетнюю прекрасную репутацию на израильском рынке высоких технологий. Программы тестирования, полученные от StarTest-JTAG.ТЕСТ, зарекомендовали себя наилучшим образом также и у нас».

Современные ПП израильских электронных компаний, изготавливаемые на заводе Flextronics Israel в Мигдаль-Аэмеке, имеют очень высокую плотность монтажа интегральных микросхем (ИС) в корпусах fine-pitch и BGA. При такой плотности монтажа физический доступ к контрольным точкам на поверхности ПП и к самим ИС попросту отсутствует, так что использование тестеров ICT для обнаружения и локализации дефектов сборки элементов SMT малоэффективно.

Мы давно и широко применяем тестеры ICT для внутрисхемного тестирования в тесной кооперации с фирмой StarTest-JTAG.ТЕСТ, разрабатывающей для нас также и программы ICT-тестирования, однако для некоторых ПП такое тестирование невозможно или неоправданно, — объясняет Михаэль. — Поэтому мы обратились к тестированию методом граничного сканирования (JTAG). Мы используем оба эти метода тестирования как взаимодополняющие, что дает замечательные результаты. Поскольку плотность монтажа контрактных ПП неуклонно растет, а большинство современных ИС имеют встроенную структуру JTAG, мы все чаще, практически для любой современной ПП, применяем технологию тестирования методом граничного сканирования, а фирма StarTest-JTAG.ТЕСТ разрабатывает для нас высокоэффективные программы JTAG- и ICT-тестирования.

StarTest-JTAG.ТЕСТ обеспечивает для Flextronics Israel разработку и поддержку программ JTAG-тестирования и внутрисхемного программирования на платформах Corelis (США) и JTAG Technologies (Голландия). Эти программы позволяют легко обнаруживать такие наиболее часто встречающиеся неисправности сборки ПП, как перемычки и короткие замыкания. Диагностические возможности программ тестирования StarTest указывают на место неисправности (контакт ИС или цепь схемы) с весьма высокой точностью, что позволяет быстро устранить неисправность.

На нашем заводе вовсе не планируется разработка и поддержка программ тестирования собственными силами, — заключает Михаэль Долкин, — поскольку сотрудничество с компанией StarTest-JTAG.ТЕСТ себя полностью оправдывает. Профессионалы StarTest-JTAG.ТЕСТ работают ответственно и эффективно для обеспечения высокого качества нашей продукции.


English

NEWS-рассылка


Скачать БЕСПЛАТНО
JTAG-систему onTAP
на 30 дней!

Отзывы о нас

Новости JTAG-Test

26.04.2017 г.
Ценовая революция в JTAG Manager.
22.04.2013 г.
Мы рады информировать наших друзей,
что исправленная редакция монографии д-ра Ами Городецкого
«ВВЕДЕНИЕ В ТЕХНОЛОГИИ JTAG И DFT. ТЕСТИРОВАНИЕ В ТЕХНОЛОГИЯХ ГРАНИЧНОГО СКАНИРОВАНИЯ И ТЕСТОПРИГОДНОЕ ПРОЕКТИРОВАНИЕ»
вышла в издательстве PALMARIUM ACADEMIC PUBLISHING, GERMANY. Книгу можно приобрести здесь.
Или через наш сайт, с небольшой скидкой.
Пишите на info@jtag-test.ru
07.05.2012 г.
Мы с удовольствием сообщаем нашим читателям и подписчикам, что в немецком академическом издательстве Palmarium в Саарбрюккене, Германия, вышла в свет монография д-ра Ами Городецкого «Введение в технологии JTAG и DFT. Тестирование в технологиях граничного сканирования и тестопригодное проектирование», 2012, Palmarium Academic Publishing, Germany, ISBN 978-3-8473-9324-5.

Новости JTAG-Test

26.04.2017 г.
Ценовая революция в JTAG Manager.
08.08.2013 г.
Выложена для скачивания обновленная версия (4965) бесплатного графического поисковика Test Fault Locator.
07.08.2013 г.
Выложена для скачивания обновленная версия (4942) бесплатного графического поисковика Test Fault Locator.
22.04.2013 г.
К сайту подключена новая страница с описанием нашего нового программного продукта Test Fault Locator.
22.04.2013 г.
Мы рады информировать наших друзей,
что исправленная редакция монографии д-ра Ами Городецкого
«ВВЕДЕНИЕ В ТЕХНОЛОГИИ JTAG И DFT. ТЕСТИРОВАНИЕ В ТЕХНОЛОГИЯХ ГРАНИЧНОГО СКАНИРОВАНИЯ И ТЕСТОПРИГОДНОЕ ПРОЕКТИРОВАНИЕ»
вышла в издательстве PALMARIUM ACADEMIC PUBLISHING, GERMANY. Книгу можно приобрести здесь.
Или через наш сайт, с небольшой скидкой.
Пишите на info@jtag-test.ru
08.07.2012 г.
К сайту подключена новая страница с описанием нашего нового программно-аппаратного продукта JTAG Overseer
07.05.2012 г.
Мы с удовольствием сообщаем нашим читателям и подписчикам, что в немецком академическом издательстве Palmarium в Саарбрюккене, Германия, вышла в свет монография д-ра Ами Городецкого «Введение в технологии JTAG и DFT. Тестирование в технологиях граничного сканирования и тестопригодное проектирование», 2012, Palmarium Academic Publishing, Germany, ISBN 978-3-8473-9324-5.

Пресс-релизы

Разработан, произведен и полностью доступен новый аппаратный модуль JEMIO-LVDS — эффективное дополнение к модулю JEMIO. В полной конфигурации модуль JEMIO-LVDS обеспечивает 36 LVDS-входных каналов и 36 LVDS-выходных каналов, плюс 2 TTL I/O канала и может быть соответственно конфигурирован по желанию пользователя. Подробности см. здесь.
Разработан, произведен и полностью доступен новейший модуль для кластерного JTAG-тестирования цепей miniPCI. В полной конфигурации модуль JEM_MiniPCI-T III обеспечивает тестирование 83-х PCI и резервных каналов, 33-х линий земли и питания, а также нескольких конфигурируемых петлевых соединений. Подробности см. здесь.
Разработан, произведен и полностью доступен новейший модуль для тестирования памяти типа UDIMM (DDR3 Unbuffered DIMM). Примеры модулей памяти DDR3 — MT18JSF25672AZ — 2GB, MT18JSF51272AZ — 4GB. Подробности — см. здесь.


 

Карта сайта | О нас | Услуги | Софт & хард | JTAG-Библиотека | Партнеры и заказчики | Поддержка | onTAP | Контакты | Монография
Написать вебмастеру
© JTAG.ТЕСТ, 2009.
Все права защищены.