![]() |
Структурное тестирование JTAG и ICT на фирме Alvarion![]() — Подход к структурному тестированию одной из крупнейших израильских компаний Alvarion®, более трех миллионов систем которой работают в 150 странах, включая Россию, на протяжении многих лет заключается в тесном сочетании тестов ICT и граничного сканирования (JTAG) — рассказывает Моти Эзра, менеджер отдела автоматического тестового оборудования. Наши требования к тестопригодности и уровню обнаружения неисправностей исключительно высоки, поскольку это является одним из важнейших факторов обеспечения качества и надежности наших изделий и их высочайшей конкурентоспособности на мировом рынке. По этой причине мы искали наиболее ответственного и опытного разработчика тестов, с широкими возможностями и высоким уровнем обслуживания и поддержки всего этого спектра деятельности — от анализа тестопригодности наших схем на самых ранних этапах их проектирования и до тестовой поддержки производства наших плат на заводах Flextronics в Израиле и в Украине. На протяжении многих лет мы сотрудничаем с компанией StarTest-JTAG.ТЕСТ в полной гармонии в разработках программ тестирования ICT и JTAG, а также обнаружения и анализа неисправностей наших изделий. Мы на Alvarion очень довольны качеством обслуживания, получаемого от компании StarTest-JTAG.ТЕСТ, и намерены продолжать наше плодотворное и эффективное сотрудничество и в дальнейшем. |
EnglishNEWS-рассылкаАБОНЕМЕНТ JTAG-УНИВЕРСИТЕТАСкачать БЕСПЛАТНО
JTAG-систему onTAP на 30 дней! Отзывы о насНовости JTAG-Университета 07.05.2012 г.Мы рады сообщить нашим читателям и подписчикам, что на днях в академическом
издательстве Palmarium в Саарбрюккене, Германия, выходит в свет монография
д-ра Ами Городецкого «Введение в технологии JTAG и DFT»
17.12.2011 г.Выложена статья «Введение в стандарт IEEE 1500 для тестопригодного проектирования СнК (Часть 1)». 05.11.2011 г.Выложена статья из журнала «КиТ» № 11. 2011 «Тестирование ICT: векторное или безвекторное?» 25.08.2011 г.Выложена статья из журнала «КиТ» № 9. 2011 «Еще раз о внутрисхемном тестировании ICT (окончание)» 28.07.2011 г.Выложена статья из журнала «КиТ» № 8. 2011 «Снова о внутрисхемном тестировании (продолжение)» Новости JTAG.ТЕСТПресс-релизы
Разработан, произведен и полностью доступен новейший модуль для тестирования памяти типа UDIMM (DDR3 Unbuffered DIMM). Примеры модулей памяти DDR3 — MT18JSF25672AZ — 2GB, MT18JSF51272AZ — 4GB. Подробности — см. на www.jtag-test.ru/SoftAndHard/SODIMM.php.
Началась подготовка к 10-му юбилейному симпозиуму EWDTS, который пройдет в Харькове.![]() |

| Карта сайта | О нас | Услуги | Софт & хард | JTAG-Университет | Партнеры и заказчики | Поддержка | JTAG-форум | Контакты | Монография | |
| Написать вебмастеру |
© JTAG.ТЕСТ, 2009. Все права защищены. |