Чем мы интересны

JTAG.ТЕСТ — это дочерняя компания фирмы StarTest, хорошо известной в израильской электронике с 2003 года и обладающей безупречной репутацией. Компания JTAG.ТЕСТ основана двумя экспертами в области тестирования электроники, технологий граничного сканирования (JTAG), внутрисхемного тестирования (ICT) и тестопригодного проектирования (DFT), в течение многих лет работающими и преподающими под коллективным именем Dr. JTAG.

Мы обладаем более чем 50-летним совокупным опытом (в СССР и в Израиле) анализа тестопригодности электронных схем и разработки для них тестов для десятков израильских и международных компаний и имеем впечатляющий опыт практической работы с большинством известных в мире систем генерации тестов, базирующихся на использовании технологий граничного сканирования (фирм Flynn Systems, Corelis, Asset, JTAG Technologies, XJTAG) и внутрисхемного тестирования (ICT) на тестерах фирмы Teradyne.

Мы являемся консультантами по DFT, ICT и JTAG множества израильских и международных фирм электроники и высоких технологий, среди которых Marvell, Kodak, Alvarion, Allot, PMC-Sierra, Voltaire, Verint, General Electric Medical, Mennen Medical, Flextronics, Comverse, Elbit, Minicom, Mellanox, Visonic, Avaya, Applied Materials, Zicon, Rokar, Sanmina SCI и многие другиe.

На русскоязычном пространстве мира мы являемся дилером компании Flynn Systems (США) — одной из наиболее известных и успешных фирм, действующих на рынке электроники, поставляющей программно-аппаратные средства разработки тестов граничного сканирования (JTAG) и выполнения таких тестов в лабораториях и на производственных линиях.

Особенностью нашего подхода к заказчикам наших услуг и их проблемам является глубокий и профессиональный анализ тестопригодности разрабатываемых ими схем, тщательность и внимание к особенностям и требованиям их производства. Мы обеспечиваем непрерывное инженерное и экспертное сопровождение схем и плат заказчика весь период жизни этих плат — от начальных этапов их проектирования, через тестирование их на производственных линиях, до отладки, внутрисхемного программирования и прожига элементов ПЛМ, FPGA, флэш-памяти, и их тестового сопровождения на объекте эксплуатации.