JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT
В JTAG мы знаем все!
«... Мы говорим JTAG, подразумеваем — ТЕСТ,
мы говорим ТЕСТ, подразумеваем — JTAG!»

Директорат


Леонид Курилан — JTAG.ТЕСТ — технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT

Леонид Курилан (B.Sc., M.Sc.) — генеральный директор компании с более чем 25-летним опытом работы в России и в Израиле в области практических применений методов и средств тестирования в электронике. Область его инженерной деятельности — разработка тестового оборудования, программного обеспечения и аппликаций технологий граничного сканирования (JTAG) и внутрисхемного тестирования (ICT) для электронных узлов и систем. Разработанные им модели тестирования СБИС вошли в системную библиотеку тестеров ICT фирмы Teradyne. В различных израильских компаниях высоких технологий им разработаны и отлажены оригинальные тестовые модели для структурного тестирования множества электронных компонентов и узлов. Леонид занимается разработкой программных продуктов тестирования на различных системах генерации тестов, использующих технологии граничного сканирования и ICT. Консультант по JTAG израильских и американских фирм Flextronics, Alvarion, Comverse, Allot, Mellanox, Visonic и многих других. Леонид является автором и соавтором ряда статей в области граничного сканирования и тестопригодного проектирования, опубликованных в России и Беларуси.

Леонид — основатель компании StarTest с 2003 и соучредитель компании JTAG.TECT — c 2010.

Ами Городецкий — JTAG.ТЕСТ — технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT

К. т. н. Ами Городецкий (1951–2013) (B.Sc, M.Sс, PhD), бывший технический директор компании, имевший более чем 30-летний опыт успешных разработок стратегий тестирования электронных схем в Украине и в Израиле. Область его научных интересов, преподавательской и инженерной деятельности охватывала методологии тестопригодного проектирования (DFT) и технологии граничного сканирования JTAG (IEEE 1149.1, 1149.4, 1149.6, 1149.7, 1149.8.1, 1532, 1500, Р1687, P1581). В течение многих лет он был известен в промышленности высоких технологий Израиля как схемный аналитик и разработчик программ тестирования электронных узлов и систем. Имел значительный опыт практической работы со всеми современными системами генерации тестов на основе использования технологий граничного сканирования. Состоял консультантом по DFT и технологиям JTAG ряда израильских, американских, канадских и российских фирм Marvell, PMC-Sierra, Verint, General Electric Healthcare, RADvision, Alvarion, Minicom и многих других. Академическая деятельность Ами была связана с многолетним преподаванием курсов тестопригодного проектирования и технологий граничного сканирования на факультете инженерных и компьютерных наук Еврейского университета в Иерусалиме (The Hebrew University of Jerusalem), на факультете электроники Холонского Технологического института (Holon Institute of Technology, Israel) и в Колледже высоких технологий в Герцлии (Израиль). Ами является автором и соавтором многочисленных статей в области структурного тестирования электронных систем и технологий JTAG, длительное время публикуемых в Израиле, России, Украине и Беларуси, а также ряда заявок на патенты США. Ами Городецкий был многолетним автором раздела «JTAG-тестирование и тестопригодное проектирование» в российском журнале «Компоненты и технологии». Его перу принадлежит монография «Введение в технологии ITAG и DFT» (издательство Palmarium Academic Press, Saarbrucken, Германия, ISDN 978-3-8473-9324-5).

Ами — один из двух основателей компании StarTest с 2005 и компании JTAG.TECT — c 2010.

Follow us on Linkedin!

English

NEWS-рассылка


Скачать БЕСПЛАТНО
JTAG-систему onTAP
на 30 дней!

Отзывы о нас

Новости JTAG-Test

26.04.2017 г.
Ценовая революция в JTAG Manager.
22.04.2013 г.
Мы рады информировать наших друзей,
что исправленная редакция монографии д-ра Ами Городецкого
«ВВЕДЕНИЕ В ТЕХНОЛОГИИ JTAG И DFT. ТЕСТИРОВАНИЕ В ТЕХНОЛОГИЯХ ГРАНИЧНОГО СКАНИРОВАНИЯ И ТЕСТОПРИГОДНОЕ ПРОЕКТИРОВАНИЕ»
вышла в издательстве PALMARIUM ACADEMIC PUBLISHING, GERMANY. Книгу можно приобрести здесь.
Или через наш сайт, с небольшой скидкой.
Пишите на info@jtag-test.ru
07.05.2012 г.
Мы с удовольствием сообщаем нашим читателям и подписчикам, что в немецком академическом издательстве Palmarium в Саарбрюккене, Германия, вышла в свет монография д-ра Ами Городецкого «Введение в технологии JTAG и DFT. Тестирование в технологиях граничного сканирования и тестопригодное проектирование», 2012, Palmarium Academic Publishing, Germany, ISBN 978-3-8473-9324-5.

Новости JTAG-Test

26.04.2017 г.
Ценовая революция в JTAG Manager.
08.08.2013 г.
Выложена для скачивания обновленная версия (4965) бесплатного графического поисковика Test Fault Locator.
07.08.2013 г.
Выложена для скачивания обновленная версия (4942) бесплатного графического поисковика Test Fault Locator.
22.04.2013 г.
К сайту подключена новая страница с описанием нашего нового программного продукта Test Fault Locator.
22.04.2013 г.
Мы рады информировать наших друзей,
что исправленная редакция монографии д-ра Ами Городецкого
«ВВЕДЕНИЕ В ТЕХНОЛОГИИ JTAG И DFT. ТЕСТИРОВАНИЕ В ТЕХНОЛОГИЯХ ГРАНИЧНОГО СКАНИРОВАНИЯ И ТЕСТОПРИГОДНОЕ ПРОЕКТИРОВАНИЕ»
вышла в издательстве PALMARIUM ACADEMIC PUBLISHING, GERMANY. Книгу можно приобрести здесь.
Или через наш сайт, с небольшой скидкой.
Пишите на info@jtag-test.ru
08.07.2012 г.
К сайту подключена новая страница с описанием нашего нового программно-аппаратного продукта JTAG Overseer
07.05.2012 г.
Мы с удовольствием сообщаем нашим читателям и подписчикам, что в немецком академическом издательстве Palmarium в Саарбрюккене, Германия, вышла в свет монография д-ра Ами Городецкого «Введение в технологии JTAG и DFT. Тестирование в технологиях граничного сканирования и тестопригодное проектирование», 2012, Palmarium Academic Publishing, Germany, ISBN 978-3-8473-9324-5.

Пресс-релизы

Разработан, произведен и полностью доступен новый аппаратный модуль JEMIO-LVDS — эффективное дополнение к модулю JEMIO. В полной конфигурации модуль JEMIO-LVDS обеспечивает 36 LVDS-входных каналов и 36 LVDS-выходных каналов, плюс 2 TTL I/O канала и может быть соответственно конфигурирован по желанию пользователя. Подробности см. здесь.
Разработан, произведен и полностью доступен новейший модуль для кластерного JTAG-тестирования цепей miniPCI. В полной конфигурации модуль JEM_MiniPCI-T III обеспечивает тестирование 83-х PCI и резервных каналов, 33-х линий земли и питания, а также нескольких конфигурируемых петлевых соединений. Подробности см. здесь.
Разработан, произведен и полностью доступен новейший модуль для тестирования памяти типа UDIMM (DDR3 Unbuffered DIMM). Примеры модулей памяти DDR3 — MT18JSF25672AZ — 2GB, MT18JSF51272AZ — 4GB. Подробности — см. здесь.


 

Карта сайта | О нас | Услуги | Софт & хард | JTAG-Библиотека | Партнеры и заказчики | Поддержка | onTAP | Контакты | Монография
Написать вебмастеру
© JTAG.ТЕСТ, 2009.
Все права защищены.