JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT
В JTAG мы знаем все!
«... Мы говорим JTAG, подразумеваем — ТЕСТ,
мы говорим ТЕСТ, подразумеваем — JTAG!»

Обзор рынка


JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT

Круг заказчиков, клиентов и партнеров компании JTAG.ТЕСТ весьма обширен и охватывает весь спектр фирм и организаций, специализирующихся как на разработке электронных плат и узлов, так и на их производстве (контрактном и собственном), сборке, отладке, и т.д., в следующих областях:

  • компьютеры и другая вычислительная техника;
  • оборудование для связи и коммуникации;
  • бытовая электроника;
  • электрооптика и фотоника;
  • медицинская и научная электроника;
  • электроника для транспорта;
  • электроника по специальным заказам.

Современная электроника России и СНГ характеризуется все более углубленным и разветвленным применением современных технологий тестирования для обеспечения высокого качества разрабатываемых и производимых изделий, диктуемого требованиями рынка. Наряду с широко применяемыми в мировой практике средствами структурного внутрисхемного тестирования на тестерах ICT, все более широкое распространение получает также тестирование в технологиях граничного сканирования (JTAG). Рынок услуг по тестированию электроники, а также аппаратных и программных средств для их поддержки, в мировой практике характеризуется устойчивым ростом из года в год, а в условиях возрождения российской электроники следует ожидать его взрывообразного роста в ближайшее время.

Активность этого сегмента рынка электроники связана с рядом экономических и технических факторов, среди которых стремление производителей электроники снизить стоимость их изделий и значительно сократить время тестирования с одновременным существенным поднятием уровня покрытия дефектов при поиске неисправностей. Максимальная автоматизация процессов тестирования призвана обеспечить увеличение производительности при сборке изделий электроники и гарантировать их высокое качество.

Все более пристальное внимание производителей электроники к технологиям граничного сканирования (ГС, JTAG) для обеспечения тестирования обусловлено следующими факторами:

  • ограниченность доступа к плате для средств тестирования и необходимость сокращения числа контрольных точек на поверхности современных плат, плотность монтажа которых непрерывно возрастает;
  • постоянное увеличение числа сложных и специализированных цифровых и гибридных микросхем;
  • все большая применимость микросхем в корпусах BGA и им подобных супер-миниатюрных корпусах;
  • возрастающая роль внутрисхемного программирования (конфигурирования) и прожига микросхем (ПЛМ, FPGA, флэши), определяющих функциональность плат и систем, а также их перепрограммирования на объекте эксплуатации;
  • уникальные возможности технологий граничного сканирования для тестирования кросс-плат, интеграции систем и блоков, а также обеспечения тестового обслуживания на объекте эксплуатации, в том числе дистанционного;
  • необходимость резкого сокращения времени производства плат.

Вот краткий список лишь некоторых из российских и международных компаний, тесно сотрудничающих с нами, которые представлены также на рынке электроники России:


JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT
JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT
JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT
JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT


English

NEWS-рассылка

АБОНЕМЕНТ JTAG-УНИВЕРСИТЕТА


Скачать БЕСПЛАТНО
JTAG-систему onTAP
на 30 дней!

Отзывы о нас

Новости JTAG-Университета

Новости JTAG.ТЕСТ

Пресс-релизы

Разработан, произведен и полностью доступен новейший модуль для тестирования памяти типа UDIMM (DDR3 Unbuffered DIMM). Примеры модулей памяти DDR3 — MT18JSF25672AZ — 2GB, MT18JSF51272AZ — 4GB. Подробности — см. на www.jtag-test.ru/SoftAndHard/SODIMM.php.
Началась подготовка к 10-му юбилейному симпозиуму EWDTS, который пройдет в Харькове.
EWDTS


 

Карта сайта | О нас | Услуги | Софт & хард | JTAG-Университет | Партнеры и заказчики | Поддержка | JTAG-форум | Контакты | Монография
Написать вебмастеру
© JTAG.ТЕСТ, 2009.
Все права защищены.