![]() |
Обзор рынка
Круг заказчиков, клиентов и партнеров компании JTAG.ТЕСТ весьма обширен и охватывает весь спектр фирм и организаций, специализирующихся как на разработке электронных плат и узлов, так и на их производстве (контрактном и собственном), сборке, отладке, и т.д., в следующих областях:
Современная электроника России и СНГ характеризуется все более углубленным и разветвленным применением современных технологий тестирования для обеспечения высокого качества разрабатываемых и производимых изделий, диктуемого требованиями рынка. Наряду с широко применяемыми в мировой практике средствами структурного внутрисхемного тестирования на тестерах ICT, все более широкое распространение получает также тестирование в технологиях граничного сканирования (JTAG). Рынок услуг по тестированию электроники, а также аппаратных и программных средств для их поддержки, в мировой практике характеризуется устойчивым ростом из года в год, а в условиях возрождения российской электроники следует ожидать его взрывообразного роста в ближайшее время. Активность этого сегмента рынка электроники связана с рядом экономических и технических факторов, среди которых стремление производителей электроники снизить стоимость их изделий и значительно сократить время тестирования с одновременным существенным поднятием уровня покрытия дефектов при поиске неисправностей. Максимальная автоматизация процессов тестирования призвана обеспечить увеличение производительности при сборке изделий электроники и гарантировать их высокое качество. Все более пристальное внимание производителей электроники к технологиям граничного сканирования (ГС, JTAG) для обеспечения тестирования обусловлено следующими факторами:
Вот краткий список лишь некоторых из российских и международных компаний, тесно сотрудничающих с нами, которые представлены также на рынке электроники России:
|
EnglishNEWS-рассылкаАБОНЕМЕНТ JTAG-УНИВЕРСИТЕТАСкачать БЕСПЛАТНО
JTAG-систему onTAP на 30 дней! Отзывы о насНовости JTAG-Университета 07.05.2012 г.Мы рады сообщить нашим читателям и подписчикам, что на днях в академическом
издательстве Palmarium в Саарбрюккене, Германия, выходит в свет монография
д-ра Ами Городецкого «Введение в технологии JTAG и DFT»
17.12.2011 г.Выложена статья «Введение в стандарт IEEE 1500 для тестопригодного проектирования СнК (Часть 1)». 05.11.2011 г.Выложена статья из журнала «КиТ» № 11. 2011 «Тестирование ICT: векторное или безвекторное?» 25.08.2011 г.Выложена статья из журнала «КиТ» № 9. 2011 «Еще раз о внутрисхемном тестировании ICT (окончание)» 28.07.2011 г.Выложена статья из журнала «КиТ» № 8. 2011 «Снова о внутрисхемном тестировании (продолжение)» Новости JTAG.ТЕСТПресс-релизы
Разработан, произведен и полностью доступен новейший модуль для тестирования памяти типа UDIMM (DDR3 Unbuffered DIMM). Примеры модулей памяти DDR3 — MT18JSF25672AZ — 2GB, MT18JSF51272AZ — 4GB. Подробности — см. на www.jtag-test.ru/SoftAndHard/SODIMM.php.
Началась подготовка к 10-му юбилейному симпозиуму EWDTS, который пройдет в Харькове.![]() |

| Карта сайта | О нас | Услуги | Софт & хард | JTAG-Университет | Партнеры и заказчики | Поддержка | JTAG-форум | Контакты | Монография | |
| Написать вебмастеру |
© JTAG.ТЕСТ, 2009. Все права защищены. |