КОНФЕРЕНЦИИ И ВЫСТАВКИ, В КОТОРЫХ МЫ УЧАСТВУЕМ

ЭкспоЭлектроника 2011

Двухдневный семинар и мастер-класс д-ра Ами Городецкого
«Технологии тестирования JTAG и тестопригодное проектирование»,
организованный под эгидой журнала «Компоненты и Технологии»,
был с большим успехом проведен на выставке «ЭкспоЭлектроника 2011» в Москве.

New-Tech International Exhibition 2011

Конференция и выставка New-Tech International Exhibition, 15-16 марта 2011
Выставочный комплекс, Тель Авив, Израиль
Лекция д-ра Ами Городецкого «JTAG-стандарт IEEE Р1687 — шаг к стандартизации DFT».

Test & Measurement Running Show 2010

Конференция и выставка Test & Measurement Running Show, 26 октября 2010, отель Daniel, Герцлия, Израиль.
Лекция д-ра Ами Городецкого «Новый JTAG стандарт IEEE 1149.7»

Embedded Systems 2010

Конференция и выставка Embedded Systems, 6 июля 2010, Выставочный Центр Аvenue, Израиль.
Лекция д-ра Ами Городецкого «JTAG-стандарт IEEE Р1687 — шаг к стандартизации DFT».

РroduTech 2010

Конференция и выставка РroduTech, 10 июня 2010, отель Dan Panorama,Тель-Авив, Израиль.
Лекция д-ра Ами Городецкого «Новый JTAG стандарт IEEE 1149.7».

ЭкспоЭлектроника 2009

(13-16 апреля 2009, Москва, Крокус Экспо)

На стенде В34 компании ПСБ Технолоджи состоялись встречи читателей цикла статей «Основы технологии граничного сканирования и тестопригодного проектирования» с авторами — профессионалами международного уровня в этой области — Ами Городецким и Леонидом Куриланом из компании JTAG.ТЕСТ.

Встречи были организованы в свободном формате вопросов-ответов по любым аспектам применения технологии граничного сканирования (JTAG) и тестопригодного проектирования (DFT), без специального расписания, в течение всего времени работы выставки.

Заинтересованные могли на месте и бесплатно:

Авторы также провели на стенде В34 компании ПСБ Технолоджи (PCB Technology) ряд коротких ежедневных семинаров по граничному сканированию (JTAG), внутрисхемному тестированию (ICT) и тестопригодному проектированию (DFT).

Темы проведенных семинаров (материалы доступны на нашем сайте):

Радэл 2008

На стенде Издательского Дома «ЭЛЕКТРОНИКА» на Международной промышленной выставке «Радиоэлектроника и приборостроение» Radel (9-12 декабря 2008, Петербургский СКК, пр. Гагарина 8, Санкт-Петербург) состоялись встречи читателей цикла статей «Основы технологии граничного сканирования и тестопригодного проектирования» с авторами — Ами Городецким и Леонидом Куриланом.

Можно было обсудить любые вопросы, связанные с тематикой цикла, ознакомиться с примерами практической реализации современных методов тестирования электроники средствами граничного сканирования (JTAG), а также получить в подарок флэшку с уже опубликованными статьями цикла.