JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT
В JTAG мы знаем все!
«... Мы говорим JTAG, подразумеваем — ТЕСТ,
мы говорим ТЕСТ, подразумеваем — JTAG!»

КОНФЕРЕНЦИИ И ВЫСТАВКИ, В КОТОРЫХ МЫ УЧАСТВУЕМ

ЭкспоЭлектроника 2011

ЭкспоЭлектроника 2009
(20–21 апреля 2011, Москва, Крокус Экспо)

Двухдневный семинар и мастер-класс д-ра Ами Городецкого
«Технологии тестирования JTAG и тестопригодное проектирование»,
организованный под эгидой журнала «Компоненты и Технологии»,
был с большим успехом проведен на выставке «ЭкспоЭлектроника 2011» в Москве.

На стенде В34 компании ПСБ Технолоджи состоялись встречи читателей цикла статей «Основы технологии граничного сканирования и тестопригодного проектирования», уже два года с продолжением публикуемого в журнале «Производство электроники», с авторами — профессионалами международного уровня в этой области — Ами Городецким и Леонидом Куриланом из компании JTAG.ТЕСТ На стенде В34 компании ПСБ Технолоджи состоялись встречи читателей цикла статей «Основы технологии граничного сканирования и тестопригодного проектирования», уже два года с продолжением публикуемого в журнале «Производство электроники», с авторами — профессионалами международного уровня в этой области — Ами Городецким и Леонидом Куриланом из компании JTAG.ТЕСТ На стенде В34 компании ПСБ Технолоджи состоялись встречи читателей цикла статей «Основы технологии граничного сканирования и тестопригодного проектирования», уже два года с продолжением публикуемого в журнале «Производство электроники», с авторами — профессионалами международного уровня в этой области — Ами Городецким и Леонидом Куриланом из компании JTAG.ТЕСТ

New-Tech International Exhibition 2011

Конференция и выставка New-Tech International Exhibition, 15-16 марта 2011
Выставочный комплекс, Тель Авив, Израиль
Лекция д-ра Ами Городецкого «JTAG-стандарт IEEE Р1687 — шаг к стандартизации DFT».


Test & Measurement Running Show 2010

JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT

Конференция и выставка Test & Measurement Running Show, 26 октября 2010, отель Daniel, Герцлия, Израиль.
Лекция д-ра Ами Городецкого «Новый JTAG стандарт IEEE 1149.7»

JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT

Embedded Systems 2010

JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT

Конференция и выставка Embedded Systems, 6 июля 2010, Выставочный Центр Аvenue, Израиль.
Лекция д-ра Ами Городецкого «JTAG-стандарт IEEE Р1687 — шаг к стандартизации DFT».


РroduTech 2010

JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT

Конференция и выставка РroduTech, 10 июня 2010, отель Dan Panorama,Тель-Авив, Израиль.
Лекция д-ра Ами Городецкого «Новый JTAG стандарт IEEE 1149.7».


ЭкспоЭлектроника 2009

ЭкспоЭлектроника 2009

(13-16 апреля 2009, Москва, Крокус Экспо)

На стенде В34 компании ПСБ Технолоджи состоялись встречи читателей цикла статей «Основы технологии граничного сканирования и тестопригодного проектирования» с авторами — профессионалами международного уровня в этой области — Ами Городецким и Леонидом Куриланом из компании JTAG.ТЕСТ.

Встречи были организованы в свободном формате вопросов-ответов по любым аспектам применения технологии граничного сканирования (JTAG) и тестопригодного проектирования (DFT), без специального расписания, в течение всего времени работы выставки.

На стенде В34 компании ПСБ Технолоджи состоялись встречи читателей цикла статей «Основы технологии граничного сканирования и тестопригодного проектирования», уже два года с продолжением публикуемого в журнале «Производство электроники», с авторами — профессионалами международного уровня в этой области — Ами Городецким и Леонидом Куриланом из компании JTAG.ТЕСТ На стенде В34 компании ПСБ Технолоджи состоялись встречи читателей цикла статей «Основы технологии граничного сканирования и тестопригодного проектирования», уже два года с продолжением публикуемого в журнале «Производство электроники», с авторами — профессионалами международного уровня в этой области — Ами Городецким и Леонидом Куриланом из компании JTAG.ТЕСТ На стенде В34 компании ПСБ Технолоджи состоялись встречи читателей цикла статей «Основы технологии граничного сканирования и тестопригодного проектирования», уже два года с продолжением публикуемого в журнале «Производство электроники», с авторами — профессионалами международного уровня в этой области — Ами Городецким и Леонидом Куриланом из компании JTAG.ТЕСТ
семинары по граничному сканированию (JTAG), внутрисхемному тестированию (ICT) и тестопригодному проектированию (DFT) семинары по граничному сканированию (JTAG), внутрисхемному тестированию (ICT) и тестопригодному проектированию (DFT) семинары по граничному сканированию (JTAG), внутрисхемному тестированию (ICT) и тестопригодному проектированию (DFT)

Заинтересованные могли на месте и бесплатно:

  • получить консультации по тестопригодности их схем;
  • обсудить возможности тестирования этих схем методами граничного сканирования (JTAG) и внутрисхемного тестирования (ICT);
  • ознакомиться с работающими демонстрационными примерами JTAG-тестирования и с операционной оболочкой «JTAG-менеджер» с русскоязычным интерфейсом, предназначенной для прогона JTAG-тестов на производственных линиях;
  • получить в подарок флэшку с уже опубликованными в журнале статьями и другими относящимися к теме материалами.

Авторы также провели на стенде В34 компании ПСБ Технолоджи (PCB Technology) ряд коротких ежедневных семинаров по граничному сканированию (JTAG), внутрисхемному тестированию (ICT) и тестопригодному проектированию (DFT).

Темы проведенных семинаров (материалы доступны на нашем сайте):

  • Цифровая технология граничного сканирования (JTAG);
  • Тесты граничного сканирования (JTAG);
  • Внутрисхемное тестирование (ICT);
  • Тестопригодное проектирование (DFT);
  • Тестопригодноcть и ее экономические аспекты.

Радэл 2008

Радэл 2008. Встречи читателей цикла статей «Основы технологии граничного сканирования и тестопригодного проектирования» с авторами — Ами Городецким и Леонидом Куриланом

На стенде Издательского Дома «ЭЛЕКТРОНИКА» на Международной промышленной выставке «Радиоэлектроника и приборостроение» Radel (9-12 декабря 2008, Петербургский СКК, пр. Гагарина 8, Санкт-Петербург) состоялись встречи читателей цикла статей «Основы технологии граничного сканирования и тестопригодного проектирования» с авторами — Ами Городецким и Леонидом Куриланом.

JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT   JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT

Можно было обсудить любые вопросы, связанные с тематикой цикла, ознакомиться с примерами практической реализации современных методов тестирования электроники средствами граничного сканирования (JTAG), а также получить в подарок флэшку с уже опубликованными статьями цикла.


English

NEWS-рассылка


Скачать БЕСПЛАТНО
JTAG-систему onTAP
на 30 дней!

Отзывы о нас

Новости JTAG-Test

Август 2017.
Новые возможности в JTAG Manager Ver.4.X.
Интерактивное окно "Вид тестируемой ПП".
26.04.2017 г.
Ценовая революция в JTAG Manager.
22.04.2013 г.
Мы рады информировать наших друзей,
что исправленная редакция монографии д-ра Ами Городецкого
«ВВЕДЕНИЕ В ТЕХНОЛОГИИ JTAG И DFT. ТЕСТИРОВАНИЕ В ТЕХНОЛОГИЯХ ГРАНИЧНОГО СКАНИРОВАНИЯ И ТЕСТОПРИГОДНОЕ ПРОЕКТИРОВАНИЕ»
вышла в издательстве PALMARIUM ACADEMIC PUBLISHING, GERMANY. Книгу можно приобрести здесь.
Или через наш сайт, с небольшой скидкой.
Пишите на info@jtag-test.ru
07.05.2012 г.
Мы с удовольствием сообщаем нашим читателям и подписчикам, что в немецком академическом издательстве Palmarium в Саарбрюккене, Германия, вышла в свет монография д-ра Ами Городецкого «Введение в технологии JTAG и DFT. Тестирование в технологиях граничного сканирования и тестопригодное проектирование», 2012, Palmarium Academic Publishing, Germany, ISBN 978-3-8473-9324-5.

Новости JTAG-Test

26.04.2017 г.
Ценовая революция в JTAG Manager.
08.08.2013 г.
Выложена для скачивания обновленная версия (4965) бесплатного графического поисковика Test Fault Locator.
07.08.2013 г.
Выложена для скачивания обновленная версия (4942) бесплатного графического поисковика Test Fault Locator.
22.04.2013 г.
К сайту подключена новая страница с описанием нашего нового программного продукта Test Fault Locator.
22.04.2013 г.
Мы рады информировать наших друзей,
что исправленная редакция монографии д-ра Ами Городецкого
«ВВЕДЕНИЕ В ТЕХНОЛОГИИ JTAG И DFT. ТЕСТИРОВАНИЕ В ТЕХНОЛОГИЯХ ГРАНИЧНОГО СКАНИРОВАНИЯ И ТЕСТОПРИГОДНОЕ ПРОЕКТИРОВАНИЕ»
вышла в издательстве PALMARIUM ACADEMIC PUBLISHING, GERMANY. Книгу можно приобрести здесь.
Или через наш сайт, с небольшой скидкой.
Пишите на info@jtag-test.ru
08.07.2012 г.
К сайту подключена новая страница с описанием нашего нового программно-аппаратного продукта JTAG Overseer
07.05.2012 г.
Мы с удовольствием сообщаем нашим читателям и подписчикам, что в немецком академическом издательстве Palmarium в Саарбрюккене, Германия, вышла в свет монография д-ра Ами Городецкого «Введение в технологии JTAG и DFT. Тестирование в технологиях граничного сканирования и тестопригодное проектирование», 2012, Palmarium Academic Publishing, Germany, ISBN 978-3-8473-9324-5.

Пресс-релизы

Разработан, произведен и полностью доступен новый аппаратный модуль JEMIO-LVDS — эффективное дополнение к модулю JEMIO. В полной конфигурации модуль JEMIO-LVDS обеспечивает 36 LVDS-входных каналов и 36 LVDS-выходных каналов, плюс 2 TTL I/O канала и может быть соответственно конфигурирован по желанию пользователя. Подробности см. здесь.
Разработан, произведен и полностью доступен новейший модуль для кластерного JTAG-тестирования цепей miniPCI. В полной конфигурации модуль JEM_MiniPCI-T III обеспечивает тестирование 83-х PCI и резервных каналов, 33-х линий земли и питания, а также нескольких конфигурируемых петлевых соединений. Подробности см. здесь.
Разработан, произведен и полностью доступен новейший модуль для тестирования памяти типа UDIMM (DDR3 Unbuffered DIMM). Примеры модулей памяти DDR3 — MT18JSF25672AZ — 2GB, MT18JSF51272AZ — 4GB. Подробности — см. здесь.


 

Карта сайта | О нас | Услуги | Софт & хард | JTAG-Библиотека | Партнеры и заказчики | Поддержка | onTAP | Контакты | Монография
Написать вебмастеру
© JTAG.ТЕСТ, 2009.
Все права защищены.