![]() |
Добро пожаловать
|
![]() |
![]() |
![]() |
Технология граничного сканирования (Boundary-Scan, JTAG), определяемая стандартом IEEE 1149.1, почти два десятилетия является незаменимым инструментом при тестировании устройств c ограниченным доступом к выводам микросхем. Широкое применение многослойных печатных плат с микросхемами в корпусах BGA и двусторонним монтажом дало новый мощный импульс развитию и повсеместному применению этой технологии. Граничное сканирование используется также как средство доступа к внутренним регистрам микросхем для наблюдения за их состоянием в процессе отладки электронных плат. Исключительно широко технология JTAG применяется и для внутрисхемного программирования (ISP) и прожига микросхем флэш-памяти.
Компания JTAG.ТЕСТ (дочерняя от компании StarTest) специализируется на применении технологий граничного сканирования JTAG (не только традиционной цифровой IEEE 1149.1, но также и аналоговых IEEE 1149.4 и IEEE 1149.6, и др.), методик тестопригодного проектирования (DFT) на различных уровнях электронной техники — от элементного до системного, и внутрисхемном тестировании (ICT). Фундаментальные знания в тестировании электроники и в преподавании технологий тестирования в университетах и колледжах, а также многолетний опыт работы со всеми известными системами генерации тестов JTAG и широчайшие контакты с большинством ведущих фирм и разработчиками во всем мире, делают компанию JTAG.ТЕСТ одной из наиболее востребованных в области электронного тестирования, диагностики и тестопригодного проектирования.
Мы консультируем в применении технологий JTAG, а также разрабатываем:
|
Мы разрабатываем, производим и поставляем компаниям, тестирующим электронику в разных странах, следующие уникальные программно-аппаратные средства JTAG-тестирования:
Карта сайта | О нас | Услуги | Софт & хард | JTAG-Библиотека | Партнеры и заказчики | Поддержка | onTAP | Контакты | Монография | ||
Написать вебмастеру |
© JTAG.ТЕСТ, 2009. Все права защищены. |