JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT
В JTAG мы знаем все!
«... Мы говорим JTAG, подразумеваем — ТЕСТ,
мы говорим ТЕСТ, подразумеваем — JTAG!»
Follow us on Linkedin!

Добро пожаловать
в мир тестопригодного проектирования (DFT)
и технологий граничного сканирования (JTAG)
с компанией JTAG.ТЕСТ!

Детальный анализ тестопригодности плат заказчика,  рекомендации по повышению тестопригодности 
 и оптимизация тестового покрытия Анализ тестопригодности плат 
 - Разработка библиотечных моделей элементов 
 - Разработка ICT тестов - цифровых и аналоговых 
 - Внутрисхемное программирование ПЛМ  и FPGA  
 - Прожиг микросхем флэш-памяти 
 - Установка и поддержка на производственных линиях
 Тестирование и отладка плат, узлов и систем,
 внутрисхемное программирование микросхем ПЛМ 
 и FPGA и прожиг флэш-памяти на платформах:
 - onTAP фирмы Flynn Systems 
 - ScanExpress фирмы Corelis 
 - ProVision фирмы JTAG Technologies 
 - ScanWorks фирмы Asset

Технология граничного сканирования (Boundary-Scan, JTAG), определяемая стандартом IEEE 1149.1, почти два десятилетия является незаменимым инструментом при тестировании устройств c ограниченным доступом к выводам микросхем. Широкое применение многослойных печатных плат с микросхемами в корпусах BGA и двусторонним монтажом дало новый мощный импульс развитию и повсеместному применению этой технологии. Граничное сканирование используется также как средство доступа к внутренним регистрам микросхем для наблюдения за их состоянием в процессе отладки электронных плат. Исключительно широко технология JTAG применяется и для внутрисхемного программирования (ISP) и прожига микросхем флэш-памяти.

Компания JTAG.ТЕСТ (дочерняя от компании StarTest) специализируется на применении технологий граничного сканирования JTAG (не только традиционной цифровой IEEE 1149.1, но также и аналоговых IEEE 1149.4 и IEEE 1149.6, и др.), методик тестопригодного проектирования (DFT) на различных уровнях электронной техники — от элементного до системного, и внутрисхемном тестировании (ICT). Фундаментальные знания в тестировании электроники и в преподавании технологий тестирования в университетах и колледжах, а также многолетний опыт работы со всеми известными системами генерации тестов JTAG и широчайшие контакты с большинством ведущих фирм и разработчиками во всем мире, делают компанию JTAG.ТЕСТ одной из наиболее востребованных в области электронного тестирования, диагностики и тестопригодного проектирования.

Мы консультируем в применении технологий JTAG, а также разрабатываем:

  • JTAG-программы для структурного тестирования безошибочности сборки плат, внутрисхемного программирования микросхем ПЛМ и FPGA и прожига флэш-памяти на следующих платформах:
  • ICT-программы внутрисхемного цифрового и аналогового тестирования плат на тестерах Z18xx фирмы Teradyne.

Мы разрабатываем, производим и поставляем компаниям, тестирующим электронику в разных странах, следующие уникальные программно-аппаратные средства JTAG-тестирования:

Монография

English

NEWS-рассылка


Скачать БЕСПЛАТНО
JTAG-систему onTAP
на 30 дней!

Отзывы о нас

Новости JTAG-Библиотеки

22.04.2013 г.
Мы рады информировать наших друзей,
что исправленная редакция монографии д-ра Ами Городецкого
«ВВЕДЕНИЕ В ТЕХНОЛОГИИ JTAG И DFT. ТЕСТИРОВАНИЕ В ТЕХНОЛОГИЯХ ГРАНИЧНОГО СКАНИРОВАНИЯ И ТЕСТОПРИГОДНОЕ ПРОЕКТИРОВАНИЕ»
вышла в издательстве PALMARIUM ACADEMIC PUBLISHING, GERMANY. Книгу можно приобрести здесь.
Или — через наш сайт, с небольшой скидкой.
Пишите на info@jtag-test.ru
07.05.2012 г.
Мы с удовольствием сообщаем нашим читателям и подписчикам, что в немецком академическом издательстве Palmarium в Саарбрюккене, Германия, вышла в свет монография д-ра Ами Городецкого «Введение в технологии JTAG и DFT. Тестирование в технологиях граничного сканирования и тестопригодное проектирование», 2012, Palmarium Academic Publishing, Germany, ISBN 978-3-8473-9324-5.

Новости JTAG.ТЕСТ

08.08.2013 г.
Выложена для скачивания обновленная версия (4965) бесплатного графического поисковика Test Fault Locator.
07.08.2013 г.
Выложена для скачивания обновленная версия (4942) бесплатного графического поисковика Test Fault Locator.
22.04.2013 г.
К сайту подключена новая страница с описанием нашего нового программного продукта Test Fault Locator.
08.07.2012 г.
К сайту подключена новая страница с описанием нашего нового программно-аппаратного продукта JTAG Overseer

Пресс-релизы

Разработан, произведен и полностью доступен новый аппаратный модуль JEMIO-LVDS — эффективное дополнение к модулю JEMIO. В полной конфигурации модуль JEMIO-LVDS обеспечивает 36 LVDS-входных каналов и 36 LVDS-выходных каналов, плюс 2 TTL I/O канала и может быть соответственно конфигурирован по желанию пользователя. Подробности см. здесь.
Разработан, произведен и полностью доступен новейший модуль для кластерного JTAG-тестирования цепей miniPCI. В полной конфигурации модуль JEM_MiniPCI-T III обеспечивает тестирование 83-х PCI и резервных каналов, 33-х линий земли и питания, а также нескольких конфигурируемых петлевых соединений. Подробности см. здесь.
Разработан, произведен и полностью доступен новейший модуль для тестирования памяти типа UDIMM (DDR3 Unbuffered DIMM). Примеры модулей памяти DDR3 — MT18JSF25672AZ — 2GB, MT18JSF51272AZ — 4GB. Подробности — см. здесь.


 

Карта сайта | О нас | Услуги | Софт & хард | JTAG-Библиотека | Партнеры и заказчики | Поддержка | onTAP | Контакты | Монография
Написать вебмастеру
© JTAG.ТЕСТ, 2009.
Все права защищены.